轴孔的同轴度加工误差的光学检测装置及光学检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010052937.9

申请日：

2020-01-17

公开(公告)号：

CN111220097A

公开(公告)日：

2020-06-02

发明(设计)人：

曹玉岩王建立李洪文王志臣周超王洪浩

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G01B1127

IPC分类号：

代理机构：

深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316

代理人：

曹卫良

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/27 申请日:20200117
2021-03-19	授权	授权

共 50 条

[1]

光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置 [P].

郭德银 ;

龚海 ;

高涵 ;

刘进 ;

陈飞跃 ;

李青岩 ;

陈俊秀 .

中国专利 :CN117969526A ,2024-05-03

[2]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[3]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[4]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[5]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

王珂 .

中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21

[6]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

张凌宇 .

中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18

[7]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

周上杰 ;

江雅雯 .

中国专利 :CN101487934B ,2009-07-22

[8]

光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P].

王亮舒 ;

杜明达 .

中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29

[9]

光学检测模组、光学检测装置、以及光学检测方法 [P].

黎育腾 ;

曲昌盛 ;

贺培诚 ;

何贯睿 ;

钟双兆 ;

范植训 ;

陈治诚 .

中国专利 :CN106053349A ,2016-10-26

[10]

光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P].

朱嘉 ;

何涛 ;

吴欢欢 .

中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07

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