磁阻位移测量装置

被引:0
申请号
CN202011279095.7
申请日
2020-11-16
公开(公告)号
CN114508993A
公开(公告)日
2022-05-17
发明(设计)人
梅辉 安德里亚斯·沃斯 杨峰
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新技术园北区朗山路26号精量电子亚洲总部大楼
IPC主分类号
G01B702
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
汪洋
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
磁阻位移测量装置 [P]. 
梅辉 ;
安德里亚斯·沃斯 ;
杨峰 .
中国专利 :CN114508993B ,2024-10-01
[2]
位移测量装置、位移测量系统和位移测量方法 [P]. 
曾有军 ;
杨峰 ;
聂义 ;
安文慧 .
中国专利 :CN119197278A ,2024-12-27
[3]
位移测量装置 [P]. 
赵永生 ;
施亦舟 ;
王海宾 ;
杨立泽 .
中国专利 :CN216746024U ,2022-06-14
[4]
位移测量装置 [P]. 
钟茗 ;
包祥栋 ;
靳军波 .
中国专利 :CN206488745U ,2017-09-12
[5]
位移测量装置 [P]. 
阿希姆·策恩 ;
格尔德·埃克尔 .
中国专利 :CN103069255B ,2013-04-24
[6]
位移测量装置 [P]. 
巴斯蒂安·安德烈亚斯·德赫尔里彭 ;
马克·安东尼·曼奈斯 .
中国专利 :CN110799799B ,2020-02-14
[7]
位移测量装置 [P]. 
三浦佑太 ;
菅孝博 .
中国专利 :CN111982017A ,2020-11-24
[8]
位移测量装置 [P]. 
杨慎敏 ;
张计恒 ;
张红彬 ;
张永 .
中国专利 :CN216246079U ,2022-04-08
[9]
位移测量装置 [P]. 
三浦佑太 ;
菅孝博 .
中国专利 :CN108571936A ,2018-09-25
[10]
位移测量方法和位移测量装置 [P]. 
小山胜弘 ;
池田正人 .
中国专利 :CN102834690A ,2012-12-19