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涂层测厚仪的探头结构
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020749580.5
申请日：
2020-05-09
公开(公告)号：
CN212363155U
公开(公告)日：
2021-01-15
发明(设计)人：
张小强
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区沙井街道沙三社区沙三路41号F1
IPC主分类号：
G01B2108
IPC分类号：
代理机构：
深圳知帮办专利代理有限公司 44682
代理人：
李赜
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-01-15 | 授权 | 授权 |