玻璃基板的垂度测量装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201621074536.9
申请日
2016-09-22
公开(公告)号
CN206019616U
公开(公告)日
2017-03-15
发明(设计)人
李志勇 郑权 王丽红 闫冬成 李俊锋 张广涛
申请人
申请人地址
100070 北京市丰台区科学城海鹰路9号2号楼266室(园区)
IPC主分类号
G01B2102
IPC分类号
G01B2132
代理机构
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447
代理人
陈庆超;桑传标
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
玻璃基板的垂度测量装置及方法 [P]. 
李志勇 ;
郑权 ;
王丽红 ;
闫冬成 ;
李俊锋 ;
张广涛 .
中国专利 :CN106441189A ,2017-02-22
[2]
测量装置及基板玻璃垂度测量设备 [P]. 
王步洲 ;
刘奎宁 ;
史伟华 ;
严永海 ;
常慧 ;
姚小阔 ;
杜延军 .
中国专利 :CN206627063U ,2017-11-10
[3]
玻璃基板直角度测量装置 [P]. 
李继云 ;
代博文 ;
胡钤苇 ;
李岗 .
中国专利 :CN223021239U ,2025-06-24
[4]
测量玻璃基板厚度的装置 [P]. 
方红义 ;
董光明 ;
石志强 ;
李震 ;
李俊生 .
中国专利 :CN209013929U ,2019-06-21
[5]
玻璃基板的尺寸测量装置 [P]. 
井上厚司 ;
植村弥浩 .
中国专利 :CN211042088U ,2020-07-17
[6]
玻璃基板厚度测量装置 [P]. 
吴军 ;
苏记华 ;
王展 ;
王陆钰 ;
吴宏斌 ;
沈先良 ;
严雷 .
中国专利 :CN206300629U ,2017-07-04
[7]
玻璃基板的测量工具 [P]. 
符岳衡 .
中国专利 :CN203274685U ,2013-11-06
[8]
玻璃基板的研磨总成的测量装置 [P]. 
张超 ;
骆兢 ;
方涛 ;
董光明 ;
石志强 ;
李震 ;
李俊生 .
中国专利 :CN209565995U ,2019-11-01
[9]
一种垂度测量装置 [P]. 
祁麟 ;
李青 ;
王丽红 ;
李媚寰 ;
周波 .
中国专利 :CN205383964U ,2016-07-13
[10]
一种测量玻璃基板条纹间距的装置 [P]. 
周波 ;
王丽红 ;
李兆廷 .
中国专利 :CN202485609U ,2012-10-10