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存储器用单线检测电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820029604.2
申请日
:
2018-01-09
公开(公告)号
:
CN207730868U
公开(公告)日
:
2018-08-14
发明(设计)人
:
王东
李明伟
林万才
申请人
:
申请人地址
:
210046 江苏省南京市栖霞区科创路金港科创园2栋6楼东
IPC主分类号
:
G01R3102
IPC分类号
:
G01K716
代理机构
:
南京天华专利代理有限责任公司 32218
代理人
:
瞿网兰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-08-14
授权
授权
共 50 条
[1]
检测电路和存储器
[P].
朱玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫科技集团股份有限公司
长鑫科技集团股份有限公司
朱玲
;
田凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫科技集团股份有限公司
长鑫科技集团股份有限公司
田凯
.
中国专利
:CN120214532A
,2025-06-27
[2]
存储器电路以及具有该存储器电路的电压检测电路
[P].
渡边考太郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
渡边考太郎
;
冈智博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
冈智博
;
铃木照夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
铃木照夫
.
中国专利
:CN101996683B
,2011-03-30
[3]
存储器电路装置及存储器检测方法
[P].
不公告发明人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
不公告发明人
.
中国专利
:CN108447520A
,2018-08-24
[4]
占空比检测电路及存储器
[P].
张雪艳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张雪艳
;
郑载勲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
郑载勲
.
中国专利
:CN118033242A
,2024-05-14
[5]
存储器电路
[P].
景曙光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
景曙光
.
中国专利
:CN101089997A
,2007-12-19
[6]
漏电检测电路和闪存存储器漏电检测装置
[P].
邓龙利
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓龙利
;
张现聚
论文数:
0
引用数:
0
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0
张现聚
.
中国专利
:CN209342843U
,2019-09-03
[7]
半导体存储器件的位线检测电路及其方法
[P].
李相菩
论文数:
0
引用数:
0
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0
李相菩
.
中国专利
:CN1110817C
,1996-05-01
[8]
存储器、存储阵列的检测电路及方法
[P].
陈先敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈先敏
;
杨家奇
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨家奇
.
中国专利
:CN105097047B
,2015-11-25
[9]
用于检测存储器阵列层面的检测电路
[P].
B·A·约翰逊
论文数:
0
引用数:
0
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0
B·A·约翰逊
;
V·J·万卡雅拉
论文数:
0
引用数:
0
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0
V·J·万卡雅拉
.
中国专利
:CN113539346B
,2021-10-22
[10]
存储器分类电路、存储器检测工装及存储器检测系统
[P].
张如宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张如宏
.
中国专利
:CN208706256U
,2019-04-05
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