一种保护测试针的测试治具

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810163866.2
申请日
2018-02-27
公开(公告)号
CN108298191A
公开(公告)日
2018-07-20
发明(设计)人
高泽燕 刘永花
申请人
申请人地址
246000 安徽省安庆市宿松县复兴镇高屯社区高排组108号
IPC主分类号
B65D6100
IPC分类号
B65D8524
代理机构
杭州橙知果专利代理事务所(特殊普通合伙) 33261
代理人
曾祥兵
法律状态
著录事项变更
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试针压接治具 [P]. 
刘磊 ;
汤昌才 .
中国专利 :CN217985590U ,2022-12-06
[2]
一种烧录测试针模治具 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN220525952U ,2024-02-23
[3]
测试针头和半导体测试治具 [P]. 
石磊 .
中国专利 :CN104280580B ,2015-01-14
[4]
测试针头和半导体测试治具 [P]. 
石磊 .
中国专利 :CN104330593B ,2015-02-04
[5]
测试针头和半导体测试治具 [P]. 
石磊 .
中国专利 :CN104280581A ,2015-01-14
[6]
治具总装用测试针模 [P]. 
柯杰 ;
谢飞 .
中国专利 :CN217181121U ,2022-08-12
[7]
新型测试针刀片针治具 [P]. 
徐伟 ;
高苏强 .
中国专利 :CN220603560U ,2024-03-15
[8]
应用于开尔文测试的芯片测试针及治具 [P]. 
刘凯 ;
施元军 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204302330U ,2015-04-29
[9]
用于测试半导体器件的连续测试针卡治具 [P]. 
刘国清 ;
胡旭伟 .
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[10]
一种线路板微型测试针治具 [P]. 
张伟连 .
中国专利 :CN205280776U ,2016-06-01