一种测试装置

被引：0

申请号：

CN202220025323.6

申请日：

2022-01-05

公开(公告)号：

CN217278778U

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

刘博谋郭太保

申请人：

申请人地址：

519000 广东省珠海市唐家湾镇拱星路92号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

伍志健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置 [P].

高一平 .

中国专利 :CN202600106U ,2012-12-12

[2]

一种内存模组测试装置 [P].

谭少鹏 ;

李保童 ;

张炳 ;

唐承超 .

中国专利 :CN223051881U ,2025-07-01

[3]

一种内存模组测试装置 [P].

谭少鹏 ;

李保童 ;

张炳 ;

唐承超 .

中国专利 :CN222939667U ,2025-06-03

[4]

一种光模块测试装置 [P].

陈嘉玲 ;

段子刚 .

中国专利 :CN221202569U ,2024-06-21

[5]

一种测试装置 [P].

李苏龙 .

中国专利 :CN214472349U ,2021-10-22

[6]

一种测试装置 [P].

刘浩 ;

李博 ;

杜容彬 ;

金玲 .

中国专利 :CN209914069U ,2020-01-07

[7]

一种测试装置 [P].

朱文艳 ;

王乐 .

中国专利 :CN213934055U ,2021-08-10

[8]

一种测试装置 [P].

陈君 ;

尹卫星 ;

唐锐 .

中国专利 :CN209542788U ,2019-10-25

[9]

一种测试装置 [P].

黎玉成 ;

杨金彪 ;

吴鸿 ;

王环环 ;

童欢 .

中国专利 :CN213186351U ,2021-05-11

[10]

一种测试装置 [P].

肖雄 ;

谭元博 .

中国专利 :CN216160779U ,2022-04-01

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