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基于机器视觉的SMT芯片缺陷检测系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121527153.3
申请日
:
2021-07-06
公开(公告)号
:
CN215493212U
公开(公告)日
:
2022-01-11
发明(设计)人
:
周龙飞
赵家昌
刘晓东
张腾
张博铭
郭钊
申请人
:
申请人地址
:
075000 河北省张家口市朝阳西大街13号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
代理机构
:
湖南楚墨知识产权代理有限公司 43268
代理人
:
梁琴琴
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-11
授权
授权
共 50 条
[1]
基于机器视觉的芯片外观缺陷检测系统
[P].
江静
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江阴市华拓芯片测试有限公司
江阴市华拓芯片测试有限公司
江静
.
中国专利
:CN222050043U
,2024-11-22
[2]
基于机器视觉的芯片封装缺陷检测方法及系统
[P].
杨保琼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市九歌创新技术有限公司
深圳市九歌创新技术有限公司
杨保琼
.
中国专利
:CN118392891A
,2024-07-26
[3]
基于机器视觉的缺陷检测方法以及缺陷检测系统
[P].
米曾真
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
米曾真
;
丛超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丛超
.
中国专利
:CN114618786A
,2022-06-14
[4]
基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测系统
[P].
居法银
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏优众微纳半导体科技有限公司
江苏优众微纳半导体科技有限公司
居法银
;
李宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏优众微纳半导体科技有限公司
江苏优众微纳半导体科技有限公司
李宁
.
中国专利
:CN117686516B
,2024-05-10
[5]
基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测系统
[P].
居法银
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏优众微纳半导体科技有限公司
江苏优众微纳半导体科技有限公司
居法银
;
李宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏优众微纳半导体科技有限公司
江苏优众微纳半导体科技有限公司
李宁
.
中国专利
:CN117686516A
,2024-03-12
[6]
一种基于机器视觉的芯片引脚缺陷检测系统
[P].
洪亚德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪亚德
.
中国专利
:CN208313802U
,2019-01-01
[7]
基于机器视觉技术的滤纸缺陷检测系统
[P].
闫清泉
论文数:
0
引用数:
0
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0
闫清泉
.
中国专利
:CN202177587U
,2012-03-28
[8]
基于机器视觉的PCBA焊锡缺陷检测系统
[P].
张强育
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华灏鲲鹏科技有限公司
华灏鲲鹏科技有限公司
张强育
.
中国专利
:CN221725890U
,2024-09-17
[9]
基于机器视觉的罐身缺陷检测系统
[P].
黄文森
论文数:
0
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0
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0
黄文森
;
陆玉仙
论文数:
0
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0
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0
陆玉仙
.
中国专利
:CN214668682U
,2021-11-09
[10]
基于机器视觉的芯片检测方法及系统
[P].
雷彬
论文数:
0
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0
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雷彬
;
肖斌
论文数:
0
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0
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肖斌
;
罗治
论文数:
0
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罗治
;
李久根
论文数:
0
引用数:
0
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0
李久根
;
吴凯
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴凯
.
中国专利
:CN115015286A
,2022-09-06
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