一种精密测试探针

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专利类型
实用新型
申请号
CN201720979839.3
申请日
2017-08-04
公开(公告)号
CN206975085U
公开(公告)日
2018-02-06
发明(设计)人
王雪峰
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新桥新发工业区南二路12号二栋一楼
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
深圳市汉唐知识产权代理有限公司 44399
代理人
韦鳌
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种精密探针测试治具 [P]. 
冯秦武 .
中国专利 :CN207263798U ,2018-04-20
[2]
一种精密测试探针 [P]. 
杨志军 ;
蔡正欣 .
中国专利 :CN206002570U ,2017-03-08
[3]
精密测试探针模组 [P]. 
黄香山 .
中国专利 :CN205263145U ,2016-05-25
[4]
一种PCB精密测试探针 [P]. 
文扩华 .
中国专利 :CN217931767U ,2022-11-29
[5]
一种测试探针 [P]. 
蒋卫兵 ;
吴学军 .
中国专利 :CN220709233U ,2024-04-02
[6]
一种测试探针 [P]. 
朱兰兰 ;
伏进文 ;
费正洪 .
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[7]
一种测试探针 [P]. 
杨利雄 ;
刘志平 ;
杨龙 .
中国专利 :CN207123549U ,2018-03-20
[8]
一种测试探针 [P]. 
朱林 ;
朱力 ;
潘玲芳 ;
屠美凤 ;
刘冬菊 .
中国专利 :CN206193060U ,2017-05-24
[9]
一种测试探针 [P]. 
严若红 ;
黄文辉 .
中国专利 :CN220438426U ,2024-02-02
[10]
半导体精密测试探针 [P]. 
钟兴彬 ;
巫燕香 .
中国专利 :CN223711681U ,2025-12-23