一种半导体行业产品性能测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810112309.8

申请日：

2018-02-05

公开(公告)号：

CN110153030A

公开(公告)日：

2019-08-23

发明(设计)人：

陈恕华袁进书

申请人：

申请人地址：

314000 浙江省嘉兴市城南路1369号3号楼403室

IPC主分类号：

B07C534

IPC分类号：

B07C502 B07C536

代理机构：

北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548

代理人：

李静

法律状态：

发明专利申请公布后的撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-02	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):B07C 5/34 申请公布日:20190823
2019-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/34 申请日:20180205
2019-08-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种产品性能测试系统 [P].

李长顺 .

中国专利 :CN207963923U ,2018-10-12

[2]

一种电子产品性能测试系统 [P].

郭茂玉 ;

钱竹平 ;

王玉玺 .

中国专利 :CN111504378A ,2020-08-07

[3]

一种3频MESH产品性能测试系统 [P].

黄钊俊 ;

刘丽 .

中国专利 :CN215300638U ,2021-12-24

[4]

一种半导体行业已编带产品视觉检测设备 [P].

陈恕华 ;

胡晨光 .

中国专利 :CN108956603A ,2018-12-07

[5]

一种氮化铝产品性能测试设备 [P].

刘红亮 ;

王勇程 ;

高志昊 ;

杨松 ;

涂朋飞 ;

赵新明 ;

刘易阳 ;

高武熙 ;

朱孔英 ;

李文慧 .

中国专利 :CN117420003A ,2024-01-19

[6]

一种氮化铝产品性能测试设备 [P].

刘红亮 ;

王勇程 ;

高志昊 ;

杨松 ;

涂朋飞 ;

赵新明 ;

刘易阳 ;

高武熙 ;

朱孔英 ;

李文慧 .

中国专利 :CN117420003B ,2024-03-19

[7]

一种3频MESH产品性能测试系统及测试方法 [P].

黄钊俊 ;

刘丽 .

中国专利 :CN113055101B ,2023-02-10

[8]

一种软件产品性能测试方法 [P].

刘杨 ;

周晓宇 ;

赵丽丽 ;

迟健平 .

中国专利 :CN109656830B ,2024-09-20

[9]

一种软件产品性能测试方法 [P].

刘杨 ;

周晓宇 ;

赵丽丽 ;

迟健平 .

中国专利 :CN109656830A ,2019-04-19

[10]

LCM产品性能测试辅助装置 [P].

施繁华 ;

闫光侠 ;

江雨朦 ;

刘建秋 ;

杨伟 .

中国专利 :CN220455629U ,2024-02-06

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