汽车的测试系统、方法、设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202111580709.X

申请日：

2021-12-22

公开(公告)号：

CN114414257A

公开(公告)日：

2022-04-29

发明(设计)人：

瞿元李涛王志超韦圣兵刘向红唐得志朱杰

申请人：

申请人地址：

241006 安徽省芜湖市经济技术开发区长春路8号

IPC主分类号：

G01M17007

IPC分类号：

G01C2132 G01C2136 G08G10967 H04L940 H04L6712 H04N5265

代理机构：

北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138

代理人：

贾敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 17/007 申请日:20211222
2022-04-29	公开	公开

共 50 条

[1]

汽车测试方法、系统、可读存储介质及汽车测试设备 [P].

胡午 ;

彭玲 ;

李武兰 ;

熊世文 ;

邵凡 .

中国专利 :CN112683552A ,2021-04-20

[2]

测试系统、测试方法、控制设备和存储介质 [P].

刘均 ;

温鑫 .

中国专利 :CN110850269A ,2020-02-28

[3]

芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 [P].

董莎莎 .

中国专利 :CN119881593A ,2025-04-25

[4]

存储设备测试方法、系统、设备和可读存储介质 [P].

林寅 ;

吴大畏 ;

李晓强 .

中国专利 :CN115588458A ,2023-01-10

[5]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687A ,2021-10-15

[6]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687B ,2024-08-09

[7]

芯片的成品测试方法、存储介质、测试设备和系统 [P].

金进 .

中国专利 :CN119535178A ,2025-02-28

[8]

认证系统的测试方法、装置、测试设备和存储介质 [P].

刘宇驰 ;

金驰 ;

程佩哲 ;

谭桂涛 .

中国专利 :CN113987506A ,2022-01-28

[9]

认证系统的测试方法、装置、测试设备和存储介质 [P].

刘宇驰 ;

金驰 ;

程佩哲 ;

谭桂涛 .

中国专利 :CN113987506B ,2025-06-24

[10]

非标设备测试系统、方法和存储介质 [P].

贺毅 ;

左志军 ;

陈旻琪 ;

姚维兵 ;

王斌 .

中国专利 :CN112346787B ,2021-02-09

← 1 2 3 4 5 →