射频测试方法、射频测试装置和电子设备

被引：0

申请号：

CN202210448470.9

申请日：

2022-04-27

公开(公告)号：

CN114546579A

公开(公告)日：

2022-05-27

发明(设计)人：

段相丰杨胜领尹项托程军强

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区经济技术开发区荣华南路15号院4号楼14层1403室

IPC主分类号：

G06F9451

IPC分类号：

G06F9445 G06K700

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

周淑娟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	公开	公开
2022-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 9/451 申请日:20220427

共 50 条

[1]

射频测试装置、射频测试设备和射频测试系统 [P].

林楷辉 ;

方坤 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN119846272A ,2025-04-18

[2]

射频测试方法、蓝牙设备、电子设备及射频测试系统 [P].

张勇 ;

屈金林 ;

王福凯 ;

王帅起 .

中国专利 :CN114598401A ,2022-06-07

[3]

射频器件测试装置和射频器件测试系统 [P].

邱建源 ;

李涛 ;

苏国生 .

中国专利 :CN212159865U ,2020-12-15

[4]

射频测试电路和电子设备 [P].

解明 .

中国专利 :CN223502858U ,2025-10-31

[5]

射频测试装置和射频测试系统 [P].

朱青云 ;

林国序 .

中国专利 :CN223231188U ,2025-08-15

[6]

射频测试设备 [P].

黄德金 ;

胡平 ;

吴彪 ;

卢业文 ;

张晓 .

中国专利 :CN221056525U ,2024-05-31

[7]

射频测试装置及射频测试方法 [P].

高海燕 ;

魏云峰 ;

丁永胜 ;

景凯凯 .

中国专利 :CN109521356A ,2019-03-26

[8]

射频测试座、射频电路以及电子设备 [P].

王利荣 .

中国专利 :CN113267716B ,2024-02-23

[9]

射频测试座、射频电路以及电子设备 [P].

王利荣 .

中国专利 :CN113267716A ,2021-08-17

[10]

射频测试装置、数据处理方法及设备、射频测试系统 [P].

李万华 ;

邓兆忠 ;

邓继元 .

中国专利 :CN106249060A ,2016-12-21

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