一种半导体测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821350350.0

申请日：

2018-08-21

公开(公告)号：

CN209014687U

公开(公告)日：

2019-06-21

发明(设计)人：

张琦王俊

申请人：

申请人地址：

065201 河北省廊坊市三河市燕郊经济技术开发区汉王路1号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465

代理人：

李冉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-21	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体恒温测试台 [P].

尹康 ;

梁浩 ;

熊茂林 .

中国专利 :CN220508984U ,2024-02-20

[2]

一种半导体测试台 [P].

杨斌 ;

黄峰荣 ;

何亮 ;

曾绍娟 .

中国专利 :CN217820683U ,2022-11-15

[3]

一种新型低损耗半导体恒温测试台 [P].

丛欣 ;

孟丹 ;

纪文明 ;

陈彦锐 .

中国专利 :CN222866713U ,2025-05-13

[4]

一种半导体探针测试台 [P].

蒋磊 .

中国专利 :CN220894359U ,2024-05-03

[5]

一种半导体探针测试台 [P].

夏红兵 .

中国专利 :CN215812867U ,2022-02-11

[6]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[7]

半导体测试台 [P].

曹孙根 .

中国专利 :CN221550845U ,2024-08-16

[8]

一种半导体芯片测试台 [P].

张韶芬 .

中国专利 :CN214953943U ,2021-11-30

[9]

一种半导体恒温测试台 [P].

张锋 .

中国专利 :CN216719872U ,2022-06-10

[10]

一种半导体电子元器件测试台 [P].

王俊 .

中国专利 :CN218272576U ,2023-01-10

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