温度测量装置和温度测量机构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880063586.2

申请日：

2018-12-04

公开(公告)号：

CN111164396B

公开(公告)日：

2020-05-15

发明(设计)人：

山本博树

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01K700

IPC分类号：

G01K114 G01K116

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

金英花

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-15	公开	公开
2020-06-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 1/14 申请日:20181204
2021-11-30	授权	授权

共 50 条

[1]

温度测量机构 [P].

崔炯皙 .

韩国专利 :CN117677825A ,2024-03-08

[2]

温度测量装置、温度测量方法和温度测量程序 [P].

宇野和史 ;

笠岛丈夫 ;

有冈孝祐 ;

福田裕幸 .

中国专利 :CN107615028A ,2018-01-19

[3]

温度测量装置和温度测量方法 [P].

松土龙夫 ;

舆水地盐 .

中国专利 :CN102692282B ,2012-09-26

[4]

温度测量装置和温度测量方法 [P].

小林晓 ;

柳泽隆行 .

日本专利 :CN117355731A ,2024-01-05

[5]

温度测量装置和测量温度的方法 [P].

V·卡索夫斯基 ;

S·I·斯拉维科夫 ;

A·I·加加维洛夫 ;

L·拜登斯 .

中国专利 :CN112013968A ,2020-12-01

[6]

温度测量方法和温度测量装置 [P].

P·D·托马希茨 ;

C·里诺 .

中国专利 :CN115704717A ,2023-02-17

[7]

温度测量装置和温度测量方法 [P].

阿部淳 ;

松土龙夫 ;

舆水地盐 .

中国专利 :CN101532885A ,2009-09-16

[8]

基板温度测量装置及基板温度测量方法 [P].

中原健 ;

川崎雅司 ;

大友明 ;

塚崎敦 .

中国专利 :CN101802574A ,2010-08-11

[9]

温度测量装置以及温度测量方法 [P].

山平尚史 ;

伊藤友彦 ;

柏原佑介 ;

照井光辉 .

日本专利 :CN120188013A ,2025-06-20

[10]

温度测量装置 [P].

何佳整 .

中国专利 :CN104414622A ,2015-03-18

← 1 2 3 4 5 →