磁致伸缩系数的测量装置及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910616122.6
申请日
2019-07-09
公开(公告)号
CN110375656A
公开(公告)日
2019-10-25
发明(设计)人
向前 张俊鹏 黄双 张明礼 杨国义 古兵平 张婷婷
申请人
申请人地址
430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
IPC主分类号
G01B1102
IPC分类号
G01R3318
代理机构
武汉开元知识产权代理有限公司 42104
代理人
胡镇西;张继巍
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种磁致伸缩系数测量装置及测量方法 [P]. 
孙宝印 ;
徐傅 ;
杨俊义 ;
徐亚东 ;
周坤 ;
刘波 .
中国专利 :CN116626567B ,2024-07-23
[2]
一种磁致伸缩系数测量装置 [P]. 
郑源明 ;
胡顺全 .
中国专利 :CN203811789U ,2014-09-03
[3]
磁致伸缩系数测量仪 [P]. 
彭保进 ;
高灵材 .
中国专利 :CN202631718U ,2012-12-26
[4]
一种磁致伸缩系数的测量系统及方法 [P]. 
侯瑞芬 ;
林安利 ;
贺建 ;
张志高 .
中国专利 :CN106802399A ,2017-06-06
[5]
多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置及测量方法 [P]. 
李彦超 ;
王春晖 ;
高龙 ;
曲杨 ;
张峰 .
中国专利 :CN102353916A ,2012-02-15
[6]
磁流变脂磁致伸缩效应的光杠杆测量方法及其测量装置 [P]. 
何国田 ;
王松 ;
张德胜 ;
马燕 ;
冉迎春 ;
刘云杰 ;
戴鹏飞 ;
谷明信 ;
宋莉 .
中国专利 :CN102778200A ,2012-11-14
[7]
一种新型的磁致伸缩测量方法及装置 [P]. 
李劲松 ;
王善铭 ;
洪剑锋 .
中国专利 :CN111208457A ,2020-05-29
[8]
多光束激光外差测量磁致伸缩系数的方法 [P]. 
李彦超 ;
王春晖 .
中国专利 :CN102323555A ,2012-01-18
[9]
一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法 [P]. 
詹清峰 ;
张晓山 ;
刘宜伟 ;
代国红 ;
李润伟 .
中国专利 :CN102890252A ,2013-01-23
[10]
基于磁致伸缩效应的压电晶片厚度测量装置及测量方法 [P]. 
崔雅静 ;
许一清 ;
魏斌 ;
周贤永 ;
刘屿剑 ;
陆旺 ;
余然 ;
李文广 ;
常相辉 .
中国专利 :CN118670281A ,2024-09-20