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磁致伸缩系数的测量装置及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910616122.6
申请日
:
2019-07-09
公开(公告)号
:
CN110375656A
公开(公告)日
:
2019-10-25
发明(设计)人
:
向前
张俊鹏
黄双
张明礼
杨国义
古兵平
张婷婷
申请人
:
申请人地址
:
430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
IPC主分类号
:
G01B1102
IPC分类号
:
G01R3318
代理机构
:
武汉开元知识产权代理有限公司 42104
代理人
:
胡镇西;张继巍
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-13
授权
授权
2019-11-19
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20190709
2019-10-25
公开
公开
共 50 条
[1]
一种磁致伸缩系数测量装置及测量方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
孙宝印
;
徐傅
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州大学
苏州大学
徐傅
;
论文数:
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机构:
杨俊义
;
论文数:
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机构:
徐亚东
;
论文数:
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机构:
周坤
;
论文数:
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机构:
刘波
.
中国专利
:CN116626567B
,2024-07-23
[2]
一种磁致伸缩系数测量装置
[P].
郑源明
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0
郑源明
;
胡顺全
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胡顺全
.
中国专利
:CN203811789U
,2014-09-03
[3]
磁致伸缩系数测量仪
[P].
彭保进
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彭保进
;
高灵材
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高灵材
.
中国专利
:CN202631718U
,2012-12-26
[4]
一种磁致伸缩系数的测量系统及方法
[P].
侯瑞芬
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侯瑞芬
;
林安利
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林安利
;
贺建
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贺建
;
张志高
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0
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张志高
.
中国专利
:CN106802399A
,2017-06-06
[5]
多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置及测量方法
[P].
李彦超
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李彦超
;
王春晖
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王春晖
;
高龙
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高龙
;
曲杨
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曲杨
;
张峰
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张峰
.
中国专利
:CN102353916A
,2012-02-15
[6]
磁流变脂磁致伸缩效应的光杠杆测量方法及其测量装置
[P].
何国田
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何国田
;
王松
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王松
;
张德胜
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张德胜
;
马燕
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马燕
;
冉迎春
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冉迎春
;
刘云杰
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刘云杰
;
戴鹏飞
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戴鹏飞
;
谷明信
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谷明信
;
宋莉
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宋莉
.
中国专利
:CN102778200A
,2012-11-14
[7]
一种新型的磁致伸缩测量方法及装置
[P].
李劲松
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李劲松
;
王善铭
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王善铭
;
洪剑锋
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洪剑锋
.
中国专利
:CN111208457A
,2020-05-29
[8]
多光束激光外差测量磁致伸缩系数的方法
[P].
李彦超
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0
李彦超
;
王春晖
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0
王春晖
.
中国专利
:CN102323555A
,2012-01-18
[9]
一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法
[P].
詹清峰
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詹清峰
;
张晓山
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张晓山
;
刘宜伟
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刘宜伟
;
代国红
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代国红
;
李润伟
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李润伟
.
中国专利
:CN102890252A
,2013-01-23
[10]
基于磁致伸缩效应的压电晶片厚度测量装置及测量方法
[P].
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机构:
崔雅静
;
许一清
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机构:
西南交通大学
西南交通大学
许一清
;
论文数:
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机构:
魏斌
;
论文数:
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机构:
周贤永
;
刘屿剑
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机构:
西南交通大学
西南交通大学
刘屿剑
;
陆旺
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机构:
西南交通大学
西南交通大学
陆旺
;
余然
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机构:
西南交通大学
西南交通大学
余然
;
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机构:
李文广
;
论文数:
引用数:
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机构:
常相辉
.
中国专利
:CN118670281A
,2024-09-20
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