光谱分析方法和系统

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专利类型
发明
申请号
CN201410015974.7
申请日
2014-01-14
公开(公告)号
CN104596986A
公开(公告)日
2015-05-06
发明(设计)人
王胤
申请人
申请人地址
200051 上海市中山西路189弄3号503室
IPC主分类号
G01N2139
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P]. 
林田纯弥 ;
柿下容弓 ;
服部英春 ;
堀入纯 .
日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06
[2]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
西村克美 .
中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21
[3]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
冯胜 .
中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15
[4]
光谱分析系统以及光谱分析方法 [P]. 
藤里砂 ;
村上幸雄 ;
岩﨑祥子 .
日本专利 :CN118111923A ,2024-05-31
[5]
光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
上野楠夫 ;
村上达希 ;
箕轮大辉 .
日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02
[6]
光谱分析方法和系统 [P]. 
福井 ;
今村直树 ;
深山隆男 .
中国专利 :CN1065337A ,1992-10-14
[7]
一种光谱分析系统和光谱分析方法 [P]. 
程嘉 ;
邓龙虎 ;
刘伟峰 ;
季林红 ;
蒲以康 .
中国专利 :CN106546330A ,2017-03-29
[8]
光谱分析方法和分析系统 [P]. 
福井勋 ;
深山隆男 .
中国专利 :CN1070609C ,1992-09-16
[9]
光谱分析方法 [P]. 
詹姆斯·约瑟夫·英厄姆 ;
斯蒂芬·大卫·巴雷特 ;
彼得·怀特曼 .
中国专利 :CN112334058A ,2021-02-05
[10]
气体的光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
森下淳一 ;
石原良夫 ;
吴尚谦 .
中国专利 :CN1258352A ,2000-06-28