芯片托盘套件及芯片测试设备

被引：0

申请号：

CN202011205343.3

申请日：

2020-11-02

公开(公告)号：

CN114441928A

公开(公告)日：

2022-05-06

发明(设计)人：

蔡振龙基因·罗森塔尔

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

隆天知识产权代理有限公司 72003

代理人：

聂慧荃;闫华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-06	公开	公开
2022-05-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201102

共 50 条

[1]

芯片托盘套件及芯片测试设备 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN114441928B ,2025-04-25

[2]

芯片测试排线及芯片测试设备 [P].

赵海洋 ;

刘乐 ;

刘伟 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

张家华 ;

李安平 .

中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01

[3]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[4]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[5]

芯片测试电路、芯片及测试设备 [P].

严波 ;

罗浚洲 ;

王悦 .

中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01

[6]

芯片测试大托盘 [P].

金英杰 .

中国专利 :CN202502116U ,2012-10-24

[7]

芯片测试转接装置及芯片测试设备 [P].

齐振彬 ;

甘杰 ;

王喆 ;

胡晓波 ;

刘浩 ;

谢旭明 ;

刘辉志 ;

张佩 ;

沙伟燕 .

中国专利 :CN111222182A ,2020-06-02

[8]

芯片测试载具及芯片测试设备 [P].

曹晖 ;

柯猛 .

中国专利 :CN107229014A ,2017-10-03

[9]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

[10]

芯片测试载具及芯片测试设备 [P].

曹晖 ;

柯猛 .

中国专利 :CN207198293U ,2018-04-06

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