配光特性测量装置以及配光特性测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610086088.2

申请日：

2016-02-15

公开(公告)号：

CN105890746B

公开(公告)日：

2016-08-24

发明(设计)人：

江南世志西田吉彦

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01J100

IPC分类号：

G01M1102 H01L3300

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-24	公开	公开
2018-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 申请日:20160215
2020-12-18	授权	授权

共 50 条

[1]

配光特性测量装置和配光特性测量方法 [P].

江南世志 .

中国专利 :CN103364177B ,2013-10-23

[2]

分光特性测量方法以及分光特性测量装置 [P].

佐野弘幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN102680097B ,2012-09-19

[3]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[4]

分光特性测量装置以及分光特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN104145177B ,2014-11-12

[5]

光纤特性测量装置以及光纤特性测量方法 [P].

松浦聪 ;

熊谷芳宏 .

日本专利 :CN119998632A ,2025-05-13

[6]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[7]

特性测量装置和特性测量方法 [P].

徐瑨 ;

吴世允 ;

李锺焕 ;

千圣贤 .

中国专利 :CN112484653A ,2021-03-12

[8]

粘弹特性测量装置以及粘弹特性测量方法 [P].

小俣顺昭 .

中国专利 :CN106133502A ,2016-11-16

[9]

电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法 [P].

吴俊斌 ;

汤士源 ;

唐敏注 .

中国专利 :CN113008939B ,2024-12-31

[10]

电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法 [P].

吴俊斌 ;

汤士源 ;

唐敏注 .

中国专利 :CN113008939A ,2021-06-22

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