一种闪烁晶体测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811575889.0

申请日：

2018-12-22

公开(公告)号：

CN109444182A

公开(公告)日：

2019-03-08

发明(设计)人：

赵安江邓胡川刘煜谢庆国

申请人：

申请人地址：

215163 江苏省苏州市高新区锦峰路8号17栋

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

G01T1202

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-08	公开	公开
2019-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20181222

共 50 条

[1]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

赵安江 ;

邓胡川 ;

刘煜 ;

谢庆国 .

中国专利 :CN109444182B ,2024-07-23

[2]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

赵安江 ;

邓胡川 ;

刘煜 ;

谢庆国 .

中国专利 :CN209400446U ,2019-09-17

[3]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

赵安江 ;

范信鑫 ;

谢庆国 .

中国专利 :CN209296931U ,2019-08-23

[4]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

赵安江 ;

范信鑫 ;

谢庆国 .

中国专利 :CN109541673B ,2019-03-29

[5]

闪烁晶体测试装置 [P].

李国铭 ;

李俊谕 ;

刘冰 ;

边建盟 ;

张泽森 ;

程豪华 .

中国专利 :CN212693642U ,2021-03-12

[6]

一种测试效率高的闪烁晶体测试装置 [P].

邓贞宙 ;

赵旭 ;

魏旌帆 .

中国专利 :CN117420591A ,2024-01-19

[7]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

罗希勇 .

中国专利 :CN216718374U ,2022-06-10

[8]

一种闪烁晶体测试装置 [P].

周蕊 .

中国专利 :CN222105375U ,2024-12-03

[9]

一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置 [P].

赵博震 ;

秦秀波 ;

杨胜宇 ;

魏存峰 ;

魏龙 .

中国专利 :CN102937510A ,2013-02-20

[10]

一种锥形闪烁晶体模块 [P].

谢庆国 ;

朱俊 ;

刘晶晶 ;

郭宁 ;

吴永成 .

中国专利 :CN201952527U ,2011-08-31

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