温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111539864.7

申请日：

2021-12-15

公开(公告)号：

CN114235205A

公开(公告)日：

2022-03-25

发明(设计)人：

戴延中成晓龙

申请人：

申请人地址：

100176 北京市北京经济技术开发区科创十街18号院3号楼1层101室

IPC主分类号：

G01K1300

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

张筱宁

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-09	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01K 13/00 变更事项:申请人变更前:北京奕斯伟计算技术有限公司变更后:北京奕斯伟计算技术股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市北京经济技术开发区科创十街18号院3号楼1层101室变更后:100176 北京市北京经济技术开发区科创十街18号院3号楼1层101室变更事项:申请人变更前:广州全盛威信息技术有限公司变更后:广州全盛威信息技术有限公司
2022-03-25	公开	公开
2022-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 13/00 申请日:20211215

共 50 条

[1]

温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

裴冉 .

中国专利 :CN115014542A ,2022-09-06

[2]

温度检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

裴冉 .

中国专利 :CN115014542B ,2025-09-12

[3]

温度检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

邱培 .

中国专利 :CN113295291A ,2021-08-24

[4]

温度检测电路、方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

梁凯 .

中国专利 :CN117516745A ,2024-02-06

[5]

检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

余昆 ;

陈峰 .

中国专利 :CN118154564A ,2024-06-07

[6]

检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

史凯运 ;

汪建安 ;

安凯 ;

王飞 .

中国专利 :CN118245299A ,2024-06-25

[7]

检测方法、装置及电子设备、计算机可读存储介质 [P].

黎明 .

中国专利 :CN113489708A ,2021-10-08

[8]

检测方法、计算机可读存储介质及电子设备 [P].

孙彬 .

中国专利 :CN117928367A ,2024-04-26

[9]

检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

沈岗 ;

卢蒙 .

中国专利 :CN118447225A ,2024-08-06

[10]

检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

林定佑 ;

廖有福 ;

蒋卫东 ;

郭昱庆 ;

罗坤林 ;

刘小婷 ;

易维 .

中国专利 :CN116105622B ,2025-09-30

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