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集成电路测试分选机压测测试装置及其工作方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110076857.1
申请日：
2021-01-20
公开(公告)号：
CN112588614B
公开(公告)日：
2021-04-02
发明(设计)人：
吴成君 林强
申请人：
申请人地址：
350012 福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼
IPC主分类号：
B07C534
IPC分类号：
B07C502 B07C536
代理机构：
福州元创专利商标代理有限公司 35100
代理人：
黄诗锦;蔡学俊
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-04-02 公开 公开
2021-04-23 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/34 申请日:20210120
2022-07-08 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路测试分选机压测测试机构 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN215031323U ,2021-12-07
[2]
集成电路测试分选机 [P]. 
班华 ;
王晓军 ;
陈涛 .
中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21
[3]
集成电路分选机测试装置 [P]. 
鲍军其 ;
赵轶 ;
刘聪 ;
韩笑 .
中国专利 :CN105268651A ,2016-01-27
[4]
一种集成电路测试分选机压测测试机构 [P]. 
廖慧霞 ;
莫嘉 .
中国专利 :CN117732760A ,2024-03-22
[5]
QFN集成电路测试分选机流道旋转脱离测试装置 [P]. 
陈慧峰 ;
李亚峰 ;
王晓华 ;
曾坤灿 ;
徐建春 .
中国专利 :CN201637816U ,2010-11-17
[6]
集成电路测试分选机分类装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09
[7]
光耦测试分选机高压测试装置及其工作方法 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN112775035A ,2021-05-11
[8]
QFN集成电路测试分选机测试单元装置 [P]. 
王新潮 ;
曾坤灿 ;
陈子文 ;
沈幸福 ;
丁峰华 ;
李亚峰 ;
徐建春 ;
吴忠其 .
中国专利 :CN201177651Y ,2009-01-07
[9]
新型QFN集成电路测试分选机测试单元装置 [P]. 
王新潮 ;
曾坤灿 ;
陈子文 ;
沈幸福 ;
丁峰华 ;
李亚峰 ;
徐建春 ;
吴忠其 .
中国专利 :CN101251572A ,2008-08-27
[10]
集成电路测试分选机自动喂料装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638298U ,2021-11-09
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