位置测量装置和位置测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910046063.X

申请日：

2009-02-10

公开(公告)号：

CN101482395A

公开(公告)日：

2009-07-15

发明(设计)人：

单世宝杨志勇齐芊枫

申请人：

申请人地址：

201203上海市张江高科技园区张东路1525号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所

代理人：

屈蘅;李时云

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-07-15	公开	公开
2017-07-04	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101754729734 IPC(主分类):G01B 11/00 专利号:ZL200910046063X 变更事项:专利权人变更前:上海微电子装备有限公司变更后:上海微电子装备(集团)股份有限公司变更事项:地址变更前:201203 上海市张江高科技园区张东路1525号变更后:201203 上海市张江高科技园区张东路1525号
2009-09-09	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-08-29	授权	授权

共 50 条

[1]

位置测量方法和位置测量装置 [P].

郭铮 .

中国专利 :CN110793514A ,2020-02-14

[2]

位置测量方法和位置测量装置 [P].

郭铮 .

:CN110793514B ,2024-03-01

[3]

位置测量方法和位置测量装置 [P].

金绍港 ;

王勇 ;

彭安斋 ;

刘胡笳 ;

伍科宇 ;

高扬 .

中国专利 :CN110388922A ,2019-10-29

[4]

位置测量装置、位置测量方法和位置测量程序 [P].

大谷仁志 ;

伊藤忠之 .

中国专利 :CN101149252B ,2008-03-26

[5]

微波位置测量装置和位置测量方法 [P].

T·赖宁格 ;

M·梅尔 ;

M·冯泽佩林 .

中国专利 :CN101460812A ,2009-06-17

[6]

位置测量系统及位置测量方法 [P].

中村隆志 ;

一之瀬刚 .

日本专利 :CN120187566A ,2025-06-20

[7]

试样液面位置测量装置和试样液面位置测量方法 [P].

中川树生 ;

杉山清隆 ;

末成元 ;

铃木岩 .

中国专利 :CN109073448A ,2018-12-21

[8]

位置测量装置及测量方法 [P].

高桑真歩 .

中国专利 :CN114188236A ,2022-03-15

[9]

位置测量装置及测量方法 [P].

黄国纮 ;

张嘉桦 ;

邱垂欣 ;

张昭琳 ;

张灿辉 .

中国专利 :CN101561248A ,2009-10-21

[10]

工作缸位置测量装置及工作缸位置测量方法 [P].

影山雅人 ;

横山佑喜 .

中国专利 :CN103842767A ,2014-06-04

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