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物体表面点三维坐标测量装置及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510808867.4
申请日
:
2015-11-20
公开(公告)号
:
CN106767584A
公开(公告)日
:
2017-05-31
发明(设计)人
:
冯玉忠
申请人
:
申请人地址
:
518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(I段)
IPC主分类号
:
G01B2100
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
:
谢志为
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-05-31
公开
公开
2019-12-06
授权
授权
2018-09-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/00 申请日:20151120
共 50 条
[1]
一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法
[P].
杨克成
论文数:
0
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杨克成
;
鄢淦威
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鄢淦威
;
夏珉
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夏珉
;
郭文平
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0
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郭文平
.
中国专利
:CN110376596B
,2019-10-25
[2]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法
[P].
何杰
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何杰
;
靳晓光
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靳晓光
;
李翰林
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李翰林
;
薛云川
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薛云川
;
杨忠平
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杨忠平
;
赵茜
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赵茜
;
汪宇航
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汪宇航
;
杨兵
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杨兵
.
中国专利
:CN115014251A
,2022-09-06
[3]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法
[P].
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机构:
何杰
;
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机构:
靳晓光
;
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机构:
李翰林
;
薛云川
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机构:
重庆大学
重庆大学
薛云川
;
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机构:
杨忠平
;
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机构:
赵茜
;
汪宇航
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机构:
重庆大学
重庆大学
汪宇航
;
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机构:
杨兵
.
中国专利
:CN115014251B
,2024-08-16
[4]
物体表面形貌测量方法
[P].
刘庆
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刘庆
;
李军旗
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李军旗
;
中川威雄
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中川威雄
.
中国专利
:CN101354246A
,2009-01-28
[5]
三维表面测量方法及测量系统
[P].
刘晖
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刘晖
;
倪友群
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倪友群
.
中国专利
:CN101706263A
,2010-05-12
[6]
镜面物体表面三维轮廓测量装置和方法
[P].
郭红卫
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郭红卫
;
陈明仪
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陈明仪
;
章亚男
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章亚男
;
陶涛
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陶涛
;
杨琦
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杨琦
;
赵展
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赵展
.
中国专利
:CN1945204A
,2007-04-11
[7]
物体表面三维形貌信息测量装置
[P].
黄元庆
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黄元庆
;
万瑾
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万瑾
;
颜黄苹
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颜黄苹
.
中国专利
:CN1888817A
,2007-01-03
[8]
反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质
[P].
吴伟锋
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吴伟锋
;
王国安
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王国安
;
王明毅
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王明毅
;
陈晓铭
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陈晓铭
;
彭粤龙
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彭粤龙
.
中国专利
:CN114001668B
,2022-02-01
[9]
三维物体测量方法及其测量装置
[P].
廖怀宝
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0
廖怀宝
.
中国专利
:CN103047944A
,2013-04-17
[10]
表面特性测量方法及坐标测量装置
[P].
D·费格尔
论文数:
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D·费格尔
.
中国专利
:CN1256567C
,2004-09-15
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