物体表面点三维坐标测量装置及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510808867.4
申请日
2015-11-20
公开(公告)号
CN106767584A
公开(公告)日
2017-05-31
发明(设计)人
冯玉忠
申请人
申请人地址
518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(I段)
IPC主分类号
G01B2100
IPC分类号
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
谢志为
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法 [P]. 
杨克成 ;
鄢淦威 ;
夏珉 ;
郭文平 .
中国专利 :CN110376596B ,2019-10-25
[2]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法 [P]. 
何杰 ;
靳晓光 ;
李翰林 ;
薛云川 ;
杨忠平 ;
赵茜 ;
汪宇航 ;
杨兵 .
中国专利 :CN115014251A ,2022-09-06
[3]
一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法 [P]. 
何杰 ;
靳晓光 ;
李翰林 ;
薛云川 ;
杨忠平 ;
赵茜 ;
汪宇航 ;
杨兵 .
中国专利 :CN115014251B ,2024-08-16
[4]
物体表面形貌测量方法 [P]. 
刘庆 ;
李军旗 ;
中川威雄 .
中国专利 :CN101354246A ,2009-01-28
[5]
三维表面测量方法及测量系统 [P]. 
刘晖 ;
倪友群 .
中国专利 :CN101706263A ,2010-05-12
[6]
镜面物体表面三维轮廓测量装置和方法 [P]. 
郭红卫 ;
陈明仪 ;
章亚男 ;
陶涛 ;
杨琦 ;
赵展 .
中国专利 :CN1945204A ,2007-04-11
[7]
物体表面三维形貌信息测量装置 [P]. 
黄元庆 ;
万瑾 ;
颜黄苹 .
中国专利 :CN1888817A ,2007-01-03
[8]
反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质 [P]. 
吴伟锋 ;
王国安 ;
王明毅 ;
陈晓铭 ;
彭粤龙 .
中国专利 :CN114001668B ,2022-02-01
[9]
三维物体测量方法及其测量装置 [P]. 
廖怀宝 .
中国专利 :CN103047944A ,2013-04-17
[10]
表面特性测量方法及坐标测量装置 [P]. 
D·费格尔 .
中国专利 :CN1256567C ,2004-09-15