一种内嵌电感的射频器件测试探针

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821342819.6
申请日
2018-08-21
公开(公告)号
CN209471158U
公开(公告)日
2019-10-08
发明(设计)人
任舰 苏丽娜 李文佳
申请人
申请人地址
223300 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562
代理人
宋平
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种内嵌电感的射频器件测试探针 [P]. 
任舰 ;
苏丽娜 ;
李文佳 .
中国专利 :CN109001500A ,2018-12-14
[2]
一种内嵌电感的射频器件测试探针 [P]. 
任舰 ;
苏丽娜 ;
李文佳 .
中国专利 :CN109001500B ,2024-01-02
[3]
射频测试探针 [P]. 
计亚斌 ;
廖辉煌 ;
杨云超 ;
张凇楠 .
中国专利 :CN222719667U ,2025-04-04
[4]
一种射频器件测试系统 [P]. 
吴远庆 .
中国专利 :CN107490738A ,2017-12-19
[5]
一种射频测试探针 [P]. 
王国华 ;
唐怀东 .
中国专利 :CN220773145U ,2024-04-12
[6]
一种电子元器件测试探针 [P]. 
周皓晨 .
:CN221174756U ,2024-06-18
[7]
一种低温共烧陶瓷的射频测试探针机构 [P]. 
张志 ;
田冶俊 ;
杨文来 ;
钟泉明 ;
郭威 .
中国专利 :CN214794562U ,2021-11-19
[8]
一种温度测试探针 [P]. 
杨文 .
中国专利 :CN212779604U ,2021-03-23
[9]
同轴射频信号测试探针 [P]. 
宋建平 .
中国专利 :CN2405224Y ,2000-11-08
[10]
一种芯片测试探针 [P]. 
李鑫 ;
朱天成 ;
杨阳 .
中国专利 :CN203981726U ,2014-12-03