一种X射线成像检测系统

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专利类型
发明
申请号
CN201910756397.X
申请日
2019-08-16
公开(公告)号
CN110487224A
公开(公告)日
2019-11-22
发明(设计)人
张超
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区甪直镇产业路以西汇凯路以南
IPC主分类号
G01B1500
IPC分类号
代理机构
北京精金石知识产权代理有限公司 11470
代理人
张黎
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[3]
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[4]
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余文锐 ;
王飞 .
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
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张孝平 ;
文青松 ;
周三元 ;
莫凡 ;
李青松 .
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