表面粗糙度检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200680046043.7

申请日：

2006-12-05

公开(公告)号：

CN101326622A

公开(公告)日：

2008-12-17

发明(设计)人：

林义典森秀树

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

G01B1130 G01N21956

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

黄纶伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-02-11	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-06-16	授权	授权
2008-12-17	公开	公开
2019-11-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20061205 授权公告日:20100616 终止日期:20181205

共 50 条

[1]

表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统 [P].

韩朝 ;

邓郴 ;

孙超 ;

王艺娜 ;

张正 ;

申开颜 ;

苏华运 ;

尹士平 ;

唐莉 ;

高静 .

中国专利 :CN223076664U ,2025-07-08

[2]

一种工件表面粗糙度的检查装置 [P].

石秀川 .

中国专利 :CN212645680U ,2021-03-02

[3]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗·查劳瑞 ;

凯文·G·哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN105378427A ,2016-03-02

[4]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗.查劳瑞 ;

凯文.G.哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN104121872B ,2014-10-29

[5]

表面粗糙度检测装置 [P].

李粉兰 ;

段海峰 ;

郝建国 ;

许祖茂 ;

李俊国 .

中国专利 :CN101363725B ,2009-02-11

[6]

表面粗糙度检测装置 [P].

李粉兰 ;

段海峰 ;

郝建国 ;

许祖茂 ;

李俊国 .

中国专利 :CN201322610Y ,2009-10-07

[7]

表面粗糙度应用 [P].

S·冈萨雷斯马丁 ;

M·博拉斯卡马拉萨 ;

J·阿尔马塞拉斯维萨 .

中国专利 :CN115103756A ,2022-09-23

[8]

表面粗糙度仪器 [P].

夏建平 .

中国专利 :CN309267834S ,2025-05-02

[9]

表面粗糙度测量 [P].

瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;

帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;

安思文·哈瑞达斯 ;

普尔基特·卡普尔 ;

比拉尔·M·纳塞尔 ;

凯尔文·H·K·陈 .

中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14

[10]

激光表面粗糙度检查仪 [P].

李纯甫 ;

李宁 ;

杨国田 ;

华雷 .

中国专利 :CN2132973Y ,1993-05-12

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