X射线辐射探测器、计算机断层成像系统和为此的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380048285.X

申请日：

2013-07-09

公开(公告)号：

CN104641255A

公开(公告)日：

2015-05-20

发明(设计)人：

S.卡普勒 B.克莱斯勒 M.拉巴延德因扎 D.尼德洛纳 M.莱因万德 C.施勒特 J.图恩 S.沃思 F.迪雷 K.斯蒂尔斯托弗 E.戈德尔 P.哈肯施密德 M.斯特拉斯伯格

申请人：

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

G01T124

IPC分类号：

G01T129

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

谢强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-15	授权	授权
2015-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101613555204 IPC(主分类):G01T 1/24 专利申请号:201380048285X 申请日:20130709
2022-02-08	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01T 1/24 登记生效日:20220125 变更事项:专利权人变更前权利人:西门子公司变更后权利人:西门子医疗有限公司变更事项:地址变更前权利人:德国慕尼黑变更后权利人:德国埃朗根
2015-05-20	公开	公开

共 50 条

[1]

直接转换X射线辐射检测器、计算机断层成像系统和方法 [P].

T·埃尔格勒 ;

E·戈德尔 ;

B·克赖斯勒 ;

M·莱因万德 ;

C·施勒特 .

中国专利 :CN104814753A ,2015-08-05

[2]

用于探测X射线辐射的方法、X射线辐射探测器和CT系统 [P].

P.哈肯施密德 ;

E.克拉夫特 ;

C.施勒特 ;

M.斯特拉斯伯格 ;

S.沃思 .

中国专利 :CN104428690A ,2015-03-18

[3]

X射线计算机断层成像系统 [P].

萩原明 .

中国专利 :CN1577076A ,2005-02-09

[4]

计算机断层摄影X射线成像 [P].

B·J·布伦德尔 ;

T·克勒 ;

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN108135557A ,2018-06-08

[5]

X射线探测器和具有X射线探测器的计算机断层造影设备 [P].

斯蒂芬·弗劳姆 .

中国专利 :CN1723853A ,2006-01-25

[6]

X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法 [P].

T·富赫斯 ;

N·尤曼 .

中国专利 :CN101960297B ,2011-01-26

[7]

探测器模块、探测器和计算机X射线断层造影装置 [P].

路德维格·丹泽 ;

哈拉尔德·马克尔 .

中国专利 :CN1955760A ,2007-05-02

[8]

探测器组件、探测器和计算机X射线断层照相装置 [P].

路德维格·丹泽 ;

安德烈亚斯·弗罗因德 ;

比约恩·海斯曼 ;

彼得·坎默尔 ;

哈拉尔德·马克尔 ;

克劳斯·波汉 ;

托马斯·赖歇尔 ;

戈特弗里德·乔帕 ;

斯蒂芬·沃斯 .

中国专利 :CN1865955A ,2006-11-22

[9]

计算机断层成像方法和计算机断层成像系统 [P].

江一峰 .

中国专利 :CN106551703A ,2017-04-05

[10]

辐射探测器模块和辐射探测方法，计算机断层摄影扫描器 [P].

R·A·马特森 ;

R·P·卢塔 ;

M·A·查波 .

中国专利 :CN100374878C ,2006-02-15

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