设备的测试方法、测试系统、控制设备及存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN201811158359.6
申请日
2018-09-30
公开(公告)号
CN109375006A
公开(公告)日
2019-02-22
发明(设计)人
李新 许爱勤 邱桥春 钱丽萍
申请人
申请人地址
510663 广东省广州市经济技术开发区广州科学城神舟路10号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人
黄志华
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试方法、测试系统、控制设备及测试工装设备 [P]. 
付吉祥 ;
姜乃熔 .
中国专利 :CN119172010A ,2024-12-20
[2]
测试系统、测试方法、控制设备和存储介质 [P]. 
刘均 ;
温鑫 .
中国专利 :CN110850269A ,2020-02-28
[3]
设备测试方法、控制设备、测试设备及存储介质 [P]. 
刘茂峰 .
中国专利 :CN114003452A ,2022-02-01
[4]
存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 [P]. 
张辉 .
中国专利 :CN109446013B ,2019-03-08
[5]
遥测设备的测试方法、测试设备、测试系统及存储介质 [P]. 
席珺琳 ;
古雅倩 ;
刘金荷 ;
方鑫 ;
吴佳杰 .
中国专利 :CN118659827A ,2024-09-17
[6]
测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P]. 
陈增亮 ;
李安平 ;
李晓白 ;
刘乐 ;
赵海洋 ;
梅利文 ;
王伟 .
中国专利 :CN118625098A ,2024-09-10
[7]
存储设备测试方法及测试系统、存储介质 [P]. 
黄学楼 ;
蔡文浩 ;
卢小刚 ;
黄成权 ;
林思源 ;
吴锦龙 ;
张霖 ;
陈东林 .
中国专利 :CN120220786A ,2025-06-27
[8]
设备测试方法、装置、测试控制设备、测试系统及介质 [P]. 
张斌 ;
李志远 .
中国专利 :CN119718959A ,2025-03-28
[9]
一种设备测试方法、设备、设备测试系统及存储介质 [P]. 
龚飞 .
中国专利 :CN118337677A ,2024-07-12
[10]
测试组件、测试系统、测试方法及存储介质 [P]. 
钟顺此 .
中国专利 :CN114441208A ,2022-05-06