一种形貌参数预测模型的构建方法及形貌参数测量方法

被引:0
申请号
CN202211146509.8
申请日
2022-09-20
公开(公告)号
CN115422843A
公开(公告)日
2022-12-02
发明(设计)人
吴华希 郭春付
申请人
申请人地址
201700 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
IPC主分类号
G06F3027
IPC分类号
G06K962 G06F11902
代理机构
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242
代理人
范三霞
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
形貌参数测量方法及系统 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
施耀明 .
中国专利 :CN117739818A ,2024-03-22
[2]
一种形貌参数测量方法、装置及测量设备 [P]. 
张晓雷 ;
施耀明 ;
叶星辰 ;
张厚道 .
中国专利 :CN111637849A ,2020-09-08
[3]
一种图形结构形貌参数的测量方法 [P]. 
秦雪飞 ;
任晓静 ;
温任华 .
中国专利 :CN117685899B ,2024-06-25
[4]
一种图形结构形貌参数的测量方法 [P]. 
秦雪飞 ;
任晓静 ;
温任华 .
中国专利 :CN117685899A ,2024-03-12
[5]
一种获取理论光谱的方法、形貌参数测量方法及装置 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
梁洪涛 ;
施耀明 .
中国专利 :CN115540779A ,2022-12-30
[6]
一种获取理论光谱的方法、形貌参数测量方法及装置 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
梁洪涛 ;
施耀明 .
中国专利 :CN115540779B ,2025-09-19
[7]
一种获取理论光谱的方法和形貌参数的测量方法 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
梁洪涛 ;
施耀明 .
中国专利 :CN115014240B ,2024-12-13
[8]
一种获取理论光谱的方法和形貌参数的测量方法 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
梁洪涛 ;
施耀明 .
中国专利 :CN115014240A ,2022-09-06
[9]
形貌测量设备、形貌测量装置及测量方法 [P]. 
马勋亮 .
中国专利 :CN118089582A ,2024-05-28
[10]
建立理论光谱库的方法及装置、形貌参数测量方法及装置 [P]. 
张晓雷 ;
张厚道 ;
梁洪涛 ;
施耀明 .
中国专利 :CN115406377B ,2024-10-15