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一种形貌参数预测模型的构建方法及形貌参数测量方法
被引:0
申请号
:
CN202211146509.8
申请日
:
2022-09-20
公开(公告)号
:
CN115422843A
公开(公告)日
:
2022-12-02
发明(设计)人
:
吴华希
郭春付
申请人
:
申请人地址
:
201700 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
IPC主分类号
:
G06F3027
IPC分类号
:
G06K962
G06F11902
代理机构
:
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242
代理人
:
范三霞
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/27 申请日:20220920
2022-12-02
公开
公开
共 50 条
[1]
形貌参数测量方法及系统
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN117739818A
,2024-03-22
[2]
一种形貌参数测量方法、装置及测量设备
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张晓雷
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施耀明
;
叶星辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶星辰
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张厚道
.
中国专利
:CN111637849A
,2020-09-08
[3]
一种图形结构形貌参数的测量方法
[P].
秦雪飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
秦雪飞
;
任晓静
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
任晓静
;
温任华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
温任华
.
中国专利
:CN117685899B
,2024-06-25
[4]
一种图形结构形貌参数的测量方法
[P].
秦雪飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
秦雪飞
;
任晓静
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
任晓静
;
温任华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
魅杰光电科技(上海)有限公司
魅杰光电科技(上海)有限公司
温任华
.
中国专利
:CN117685899A
,2024-03-12
[5]
一种获取理论光谱的方法、形貌参数测量方法及装置
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张厚道
;
梁洪涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁洪涛
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施耀明
.
中国专利
:CN115540779A
,2022-12-30
[6]
一种获取理论光谱的方法、形貌参数测量方法及装置
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
梁洪涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
梁洪涛
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN115540779B
,2025-09-19
[7]
一种获取理论光谱的方法和形貌参数的测量方法
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
梁洪涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
梁洪涛
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN115014240B
,2024-12-13
[8]
一种获取理论光谱的方法和形貌参数的测量方法
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张厚道
;
梁洪涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁洪涛
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施耀明
.
中国专利
:CN115014240A
,2022-09-06
[9]
形貌测量设备、形貌测量装置及测量方法
[P].
马勋亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
马勋亮
.
中国专利
:CN118089582A
,2024-05-28
[10]
建立理论光谱库的方法及装置、形貌参数测量方法及装置
[P].
张晓雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
梁洪涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
梁洪涛
;
施耀明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN115406377B
,2024-10-15
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