多探头电路测试仪

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201730583322.8

申请日：

2017-11-23

公开(公告)号：

CN304682672S

公开(公告)日：

2018-06-15

发明(设计)人：

大卫·F.·布雷克迈克尔·G.·霍尔登韦恩·拉塞尔约书亚·卡顿

申请人：

申请人地址：

美国威斯康星州

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

何冲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-15	授权	授权

共 50 条

[1]

电路测试仪 [P].

宣浩 .

中国专利 :CN301913167S ,2012-05-16

[2]

探头测试仪 [P].

李邵辉 ;

李雷 ;

欧新菊 ;

闻家毅 .

中国专利 :CN307797146S ,2023-01-17

[3]

电路测试仪 [P].

侯亮 .

中国专利 :CN309104905S ,2025-02-11

[4]

电路测试仪 [P].

胡烨阳 .

中国专利 :CN309534855S ,2025-10-10

[5]

多探头土壤多功能测试仪 [P].

汪生云 ;

黄健 ;

罗芳武 .

中国专利 :CN204462135U ,2015-07-08

[6]

测试仪探头 [P].

叶锐 .

中国专利 :CN101614756A ,2009-12-30

[7]

电路测试仪 [P].

刘秋丽 .

中国专利 :CN105606985A ,2016-05-25

[8]

天线测试仪(128探头) [P].

蒋宇 .

中国专利 :CN303814805S ,2016-08-24

[9]

电路线缆测试仪 [P].

叶晓舟 .

中国专利 :CN304218068S ,2017-07-28

[10]

天线测试仪(24探头) [P].

蒋宇 .

中国专利 :CN303814806S ,2016-08-24

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