一种探针测试台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011429689.1

申请日：

2020-12-09

公开(公告)号：

CN112540200A

公开(公告)日：

2021-03-23

发明(设计)人：

吴建锋徐振宇江俊许森尉理哲叶芳芳阮越王金铭

申请人：

申请人地址：

310015 浙江省杭州市拱墅区树人街8号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

杭州昱呈专利代理事务所(普通合伙) 33303

代理人：

雷仕荣

法律状态：

发明专利申请公布后的撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-10	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 1/04 申请公布日:20210323
2021-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20201209
2021-03-23	公开	公开
2021-05-04	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 1/04 变更事项:申请人变更前:浙江树人学院(浙江树人大学) 变更后:浙江树人学院(浙江树人大学) 变更事项:地址变更前:310015 浙江省杭州市拱墅区树人街8号变更后:312028 浙江省绍兴市柯桥区杨汛桥镇江夏路2016号

共 50 条

[1]

一种手动探针测试台 [P].

吴建锋 ;

尉理哲 ;

江俊 ;

许森 ;

叶芳芳 ;

阮越 ;

徐振宇 ;

王金铭 .

中国专利 :CN213875763U ,2021-08-03

[2]

探针测试台 [P].

姚毅飞 ;

郝宇杰 ;

王立 ;

李念宜 ;

刘赤宇 ;

汪辰杲 .

中国专利 :CN118112290A ,2024-05-31

[3]

一种半导体探针测试台 [P].

夏红兵 .

中国专利 :CN215812867U ,2022-02-11

[4]

一种LED测试用探针测试台 [P].

张洪梅 ;

张洪叶 ;

代剑楠 .

中国专利 :CN120908493A ,2025-11-07

[5]

一种半导体探针测试台用探针 [P].

施林荣 .

中国专利 :CN110488177A ,2019-11-22

[6]

一种半导体探针测试台 [P].

蒋磊 .

中国专利 :CN220894359U ,2024-05-03

[7]

一种导电探针测试台及其测试方法 [P].

吴玉刚 ;

李瑞强 ;

陈广涛 .

中国专利 :CN117630437A ,2024-03-01

[8]

自动化探针测试台 [P].

吴建锋 ;

阮越 ;

许森 ;

尉理哲 ;

叶芳芳 ;

徐振宇 ;

江俊 ;

王金铭 .

中国专利 :CN112504313B ,2024-06-04

[9]

通用型探针测试台 [P].

宋鋆鋆 ;

桑浚之 .

中国专利 :CN201576075U ,2010-09-08

[10]

自动化探针测试台 [P].

吴建锋 ;

阮越 ;

许森 ;

尉理哲 ;

叶芳芳 ;

徐振宇 ;

江俊 ;

王金铭 .

中国专利 :CN112504313A ,2021-03-16

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