测量杂质的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200480016204.9

申请日：

2004-06-14

公开(公告)号：

CN1806167A

公开(公告)日：

2006-07-19

发明(设计)人：

仓增幸雄额见哲也

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

G01N2117

IPC分类号：

G01N3320

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

刘晓峰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-12-30	授权	授权
2006-09-13	实质审查的生效	实质审查的生效
2015-08-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101620094275 IPC(主分类):G01N 21/88 专利号:ZL2004800162049 申请日:20040614 授权公告日:20091230 终止日期:20140614
2006-07-19	公开	公开

共 50 条

[1]

用于液滴中的杂质的检测和/或测量的方法和装置 [P].

丹尼斯·基谢廖夫 ;

法比奥·卡佩拉 .

:CN112912710B ,2025-08-01

[2]

用于液滴中的杂质的检测和/或测量的方法和装置 [P].

丹尼斯·基谢廖夫 ;

法比奥·卡佩拉 .

中国专利 :CN112912710A ,2021-06-04

[3]

在纤维和杂质混合的体积中测量杂质重量的装置和方法 [P].

刘亚洲 ;

徐自波 ;

杨晓利 .

中国专利 :CN102884425A ,2013-01-16

[4]

测量纺织纤维特别是棉纤维粘性、瑕疵和杂质的测量装置 [P].

A·里盖蒂尼 ;

G·帕斯 ;

M·穆塞斯蒂 .

中国专利 :CN107043968A ,2017-08-15

[5]

测量装置和测量方法 [P].

E·D·赫布施莱布 ;

水落宪和 ;

芳井义治 .

中国专利 :CN114746764A ,2022-07-12

[6]

测量装置和测量方法 [P].

E·D·赫布施莱布 ;

水落宪和 ;

芳井义治 .

日本专利 :CN114746764B ,2025-03-25

[7]

测量装置和测量方法 [P].

滝口清昭 .

中国专利 :CN1845701A ,2006-10-11

[8]

测量装置和测量方法 [P].

松井克宜 ;

铃木一隆 ;

丰田晴义 ;

宅见宗则 ;

袴田直俊 .

中国专利 :CN105828701B ,2016-08-03

[9]

形状复原方法和图像测量装置 [P].

增村茂树 ;

高滨康弘 ;

宫仓常太 ;

山县正意 .

中国专利 :CN114746716A ,2022-07-12

[10]

形状复原方法和图像测量装置 [P].

增村茂树 ;

高滨康弘 ;

宫仓常太 ;

山县正意 .

日本专利 :CN114746716B ,2024-06-04

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