金属镀层的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310048309.3

申请日：

2013-02-06

公开(公告)号：

CN103175494B

公开(公告)日：

2013-06-26

发明(设计)人：

梁朝辉

申请人：

申请人地址：

510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

IPC主分类号：

G01B2108

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

万志香;曾旻辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-06-26	公开	公开
2016-05-11	授权	授权
2013-07-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101497331330 IPC(主分类):G01B 21/08 专利申请号:2013100483093 申请日:20130206

共 50 条

[1]

金属镀层厚度的测量方法 [P].

李建强 ;

杨金虎 ;

乔彦彬 ;

隗合鹏 ;

陈燕宁 ;

原义栋 .

中国专利 :CN109269451A ,2019-01-25

[2]

一种金属镀层厚度的测量方法 [P].

张晓 .

中国专利 :CN114018196A ,2022-02-08

[3]

具有复合金属镀层的电子元件中各镀层厚度的测量方法 [P].

刘磊 ;

吕宏峰 ;

王小强 ;

牛付林 ;

卢思佳 .

中国专利 :CN105444706A ,2016-03-30

[4]

镀层测量方法、镀层测量装置及镀层生产线 [P].

陶兴荣 .

中国专利 :CN115615333A ,2023-01-17

[5]

镀层测量方法、镀层测量装置及镀层生产线 [P].

陶兴荣 .

中国专利 :CN115615333B ,2025-07-29

[6]

镀层测量方法和装置 [P].

曹鸿章 ;

陶兴荣 .

中国专利 :CN108680127B ,2018-10-19

[7]

镀层测量方法和装置 [P].

曹鸿章 ;

陶兴荣 .

中国专利 :CN108895994B ,2018-11-27

[8]

一种双面多点位金属镀层电阻高速测量系统及测量方法 [P].

许斌 ;

马江龙 ;

王晨妍 ;

辛若铭 ;

徐凡颖 ;

肖宇萌 .

中国专利 :CN110568022A ,2019-12-13

[9]

一种双面多点位金属镀层电阻高速测量系统及测量方法 [P].

许斌 ;

马江龙 ;

王晨妍 ;

辛若铭 ;

徐凡颖 ;

肖宇萌 .

中国专利 :CN110568022B ,2024-06-04

[10]

金属扩散测量方法 [P].

胡金亮 ;

王鹏 ;

贾阳华 ;

方泽楚 ;

徐立明 ;

张博 ;

汪卫华 .

中国专利 :CN117451581A ,2024-01-26

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