检测激光加工质量的光学检测模块和系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202023074751.8
申请日
2020-12-18
公开(公告)号
CN214427310U
公开(公告)日
2021-10-19
发明(设计)人
刘文杰 周泉 李静娴
申请人
申请人地址
510290 广东省广州市海珠区沥滘振兴大街10号自编15号楼C201单元
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
G01N2101
代理机构
广州蓝晟专利代理事务所(普通合伙) 44452
代理人
欧阳凯
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
检测激光加工质量的光学检测模块和系统 [P]. 
刘文杰 ;
周泉 ;
李静娴 .
中国专利 :CN112525922A ,2021-03-19
[2]
激光加工件加工点质量检测装置和系统 [P]. 
白天翔 ;
李正文 ;
李静娴 ;
李智华 ;
刘文杰 ;
胡崇源 ;
游德勇 ;
李文彦 .
中国专利 :CN214584993U ,2021-11-02
[3]
激光加工检测系统 [P]. 
白天翔 ;
李正文 ;
李静娴 ;
李智华 ;
刘文杰 ;
胡崇源 ;
游德勇 ;
李文彦 .
中国专利 :CN215238578U ,2021-12-21
[4]
激光加工质量监测系统 [P]. 
卢琳 ;
李欣曈 ;
赵德明 .
中国专利 :CN214161805U ,2021-09-10
[5]
激光加工件加工点质量检测方法、装置和系统 [P]. 
白天翔 ;
李正文 ;
李静娴 ;
李智华 ;
刘文杰 ;
胡崇源 ;
游德勇 ;
李文彦 .
中国专利 :CN112461860A ,2021-03-09
[6]
激光加工件加工点质量检测方法、装置和系统 [P]. 
白天翔 ;
李正文 ;
李静娴 ;
李智华 ;
刘文杰 ;
胡崇源 ;
游德勇 ;
李文彦 .
中国专利 :CN112461860B ,2025-01-07
[7]
基于光学相干层析成像的激光加工质量检测系统及方法 [P]. 
宋维业 ;
姚政开 ;
吴付旺 ;
万熠 ;
张承瑞 ;
仪维 ;
潘翔 ;
户凯旋 ;
杨孔征 ;
徐全庆 ;
韦洪涛 ;
李衍硕 .
中国专利 :CN118518672A ,2024-08-20
[8]
一种多路光信号检测的激光加工质量监测系统 [P]. 
李智华 ;
谢品 ;
黎德源 ;
白天翔 ;
李正文 ;
游德勇 .
中国专利 :CN211426302U ,2020-09-04
[9]
基于激光组合模块图的光学检测系统 [P]. 
熊汉伟 ;
张洪 ;
张湘伟 ;
成思源 ;
章争荣 ;
吕文阁 .
中国专利 :CN201335685Y ,2009-10-28
[10]
激光加工检测方法、设备和系统 [P]. 
李文彦 ;
周志光 ;
潘庆龙 .
中国专利 :CN118492695A ,2024-08-16