基于EEMD和边际谱熵的绝缘子污秽放电模式识别方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410523293.1
申请日
2014-09-30
公开(公告)号
CN104237757A
公开(公告)日
2014-12-24
发明(设计)人
龚继平 刘凤龙 张晖平 徐军波 胡浩 蒋超 舒乃秋 李自品 彭辉 田双双
申请人
申请人地址
430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
IPC主分类号
G01R3112
IPC分类号
代理机构
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人
鲁力
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于紫外图谱的绝缘子外部放电模式识别方法 [P]. 
丁培 ;
马飞越 ;
王博 ;
郝金鹏 ;
田禄 ;
周秀 ;
吴旭涛 ;
徐玉华 ;
沙伟燕 ;
李军浩 .
中国专利 :CN104331701A ,2015-02-04
[2]
基于小样本学习的绝缘子污秽放电状态识别方法及系统 [P]. 
谭奔 ;
岳一石 ;
邹妍晖 ;
黄福勇 ;
王成 ;
王海跃 .
中国专利 :CN113642714B ,2024-02-09
[3]
基于小样本学习的绝缘子污秽放电状态识别方法及系统 [P]. 
谭奔 ;
岳一石 ;
邹妍晖 ;
黄福勇 ;
王成 ;
王海跃 .
中国专利 :CN113642714A ,2021-11-12
[4]
基于解谱网络的绝缘子污秽成分识别方法和系统 [P]. 
刘静 ;
黄青丹 ;
黄慧红 ;
杨柳 ;
赵崇智 ;
宋浩永 ;
李助亚 ;
吴培伟 ;
魏晓东 ;
王婷延 ;
李东宇 ;
韦凯晴 .
中国专利 :CN115376005A ,2022-11-22
[5]
基于污秽溶液的绝缘子污秽度识别方法、系统和设备 [P]. 
刘静 ;
黄青丹 ;
黄慧红 ;
杨柳 ;
赵崇智 ;
宋浩永 ;
王勇 ;
李助亚 ;
吴培伟 ;
魏晓东 ;
王婷延 ;
李东宇 ;
韦凯晴 .
中国专利 :CN115356352A ,2022-11-18
[6]
基于污秽溶液的绝缘子污秽度识别方法、系统和设备 [P]. 
刘静 ;
黄青丹 ;
黄慧红 ;
杨柳 ;
赵崇智 ;
宋浩永 ;
王勇 ;
李助亚 ;
吴培伟 ;
魏晓东 ;
王婷延 ;
李东宇 ;
韦凯晴 .
中国专利 :CN115356352B ,2025-05-09
[7]
绝缘子污秽成分高光谱识别方法 [P]. 
任明 ;
夏昌杰 ;
王彬 ;
董明 ;
徐广昊 ;
谢佳成 ;
张崇兴 ;
王思云 ;
段然 ;
郭晨希 ;
马馨逸 .
中国专利 :CN111257242A ,2020-06-09
[8]
基于绝缘子擦拭方巾的绝缘子污秽度快速识别方法 [P]. 
黄青丹 ;
刘静 ;
黄慧红 ;
杨柳 ;
赵崇智 ;
宋浩永 ;
韦凯晴 ;
李助亚 ;
吴培伟 ;
魏晓东 ;
王婷延 ;
李东宇 .
中国专利 :CN115372273A ,2022-11-22
[9]
盆式绝缘子局部放电模式识别方法、装置、设备及介质 [P]. 
赵玉顺 ;
陈勤哲 ;
胡圣涛 ;
李先勇 .
中国专利 :CN118760991A ,2024-10-11
[10]
基于MRMR特征识别的绝缘子污秽成分识别方法和装置 [P]. 
申巍 ;
王森 ;
李松 ;
梁谦 ;
王勇 ;
李志忠 ;
张鹏 ;
李伟 ;
朱明曦 ;
赵海英 ;
任静 ;
李新民 ;
张璐 .
中国专利 :CN117455846A ,2024-01-26