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光场成像系统的校准
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080012161.6
申请日
:
2020-01-29
公开(公告)号
:
CN113412441A
公开(公告)日
:
2021-09-17
发明(设计)人
:
马库斯·鲍姆加特
蒂博尔·拜赖茨基
亚克·普里博斯克
扬·施泰因布伦纳
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
申请人
:
申请人地址
:
奥地利哈莱恩
IPC主分类号
:
G02B2136
IPC分类号
:
G06T7557
代理机构
:
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
:
李彦伯;龙涛峰
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-09-17
公开
公开
2022-02-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 21/36 申请日:20200129
共 50 条
[1]
光场成像系统的校准
[P].
马库斯·鲍姆加特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
马库斯·鲍姆加特
;
蒂博尔·拜赖茨基
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
蒂博尔·拜赖茨基
;
亚克·普里博斯克
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
亚克·普里博斯克
;
扬·施泰因布伦纳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
扬·施泰因布伦纳
;
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
.
:CN113412441B
,2024-09-24
[2]
光场成像系统
[P].
覃政
论文数:
0
引用数:
0
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0
覃政
.
中国专利
:CN105635530B
,2016-06-01
[3]
光场成像系统
[P].
覃政
论文数:
0
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0
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0
覃政
.
中国专利
:CN204258928U
,2015-04-08
[4]
光场成像装置
[P].
丁志宇
论文数:
0
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0
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0
丁志宇
.
中国专利
:CN107509015A
,2017-12-22
[5]
光场成像装置
[P].
丁志宇
论文数:
0
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0
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0
丁志宇
.
中国专利
:CN207200848U
,2018-04-06
[6]
光场成像模组
[P].
王兆民
论文数:
0
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0
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0
王兆民
;
许星
论文数:
0
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0
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0
许星
.
中国专利
:CN207691911U
,2018-08-03
[7]
光场成像模组
[P].
王兆民
论文数:
0
引用数:
0
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0
王兆民
;
许星
论文数:
0
引用数:
0
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0
许星
.
中国专利
:CN108174068A
,2018-06-15
[8]
扫描光场成像系统
[P].
吴嘉敏
论文数:
0
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吴嘉敏
;
卢志
论文数:
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卢志
;
肖红江
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肖红江
.
中国专利
:CN110596885B
,2019-12-20
[9]
光场成像系统以及通过光场成像系统采集光场信息的方法
[P].
李浩天
论文数:
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李浩天
;
钱至文
论文数:
0
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0
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0
钱至文
.
中国专利
:CN113905164A
,2022-01-07
[10]
小体积的光场成像模组
[P].
王兆民
论文数:
0
引用数:
0
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王兆民
;
许星
论文数:
0
引用数:
0
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0
许星
.
中国专利
:CN207691912U
,2018-08-03
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