X射线检查装置和X射线检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410088251.6

申请日：

2004-08-27

公开(公告)号：

CN1595124B

公开(公告)日：

2005-03-16

发明(设计)人：

市原胜吉野信治井上博之木下俊生大内一生

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

H05G126 H05G108 H05G102

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

侯颖媖

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-08-10	授权	授权
2014-10-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101587691450 IPC(主分类):G01N 23/04 专利号:ZL2004100882516 申请日:20040827 授权公告日:20110810 终止日期:20130827
2006-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-03-16	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

笠原启雅 .

中国专利 :CN115078416A ,2022-09-20

[2]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

山河勉 ;

山本修一郎 ;

山崎雅志 .

中国专利 :CN106030293A ,2016-10-12

[3]

X射线检查装置 [P].

津野正雄 ;

宫崎清司 ;

山本慎也 ;

山元康司 ;

山本康博 ;

松村彻二 ;

片山兴二 .

中国专利 :CN101750033A ,2010-06-23

[4]

X射线检查装置 [P].

广濑修 .

中国专利 :CN104781656B ,2015-07-15

[5]

X射线检查装置 [P].

杉本一幸 ;

广濑修 .

中国专利 :CN106574903B ,2017-04-19

[6]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

太田香 ;

中田胜作 ;

松田淳 ;

冈村健 ;

铃木公太 ;

藤井快治 .

中国专利 :CN102348970A ,2012-02-08

[7]

X射线检查方法和X射线检查装置 [P].

杉田信治 ;

益田真之 .

中国专利 :CN102265142A ,2011-11-30

[8]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

株本隆司 ;

岩井厚司 .

中国专利 :CN101495854B ,2009-07-29

[9]

X射线检查方法和X射线检查装置 [P].

益田真之 ;

杉田信治 ;

加藤训之 ;

松波刚 .

中国专利 :CN102265143A ,2011-11-30

[10]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

竹田明弘 .

中国专利 :CN112925034A ,2021-06-08

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