一种电容按键测试装置

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申请号
CN202221948431.7
申请日
2022-07-27
公开(公告)号
CN218383186U
公开(公告)日
2023-01-24
发明(设计)人
李世林
申请人
申请人地址
510000 广东省广州市黄埔区南翔三路25号
IPC主分类号
G01R31327
IPC分类号
G01R104
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
李林
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电容按键的测试装置 [P]. 
郑亚利 ;
丁成龙 ;
李敏 .
中国专利 :CN223065454U ,2025-07-04
[2]
一种电容按键板测试装置 [P]. 
刘冰 ;
束军 ;
高维 ;
赵静 .
中国专利 :CN222105508U ,2024-12-03
[3]
一种电容触摸按键测试装置 [P]. 
解永良 ;
陈虢 ;
许荣再 .
中国专利 :CN212905304U ,2021-04-06
[4]
一种按键测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN210487206U ,2020-05-08
[5]
一种按键按压测试装置 [P]. 
温亚磊 ;
潘正坤 ;
刘志强 .
中国专利 :CN208547470U ,2019-02-26
[6]
一种电容式触摸按键测试装置 [P]. 
刘勋 .
中国专利 :CN207181564U ,2018-04-03
[7]
电容测试装置 [P]. 
钟磊 ;
冯园 ;
姚年红 .
中国专利 :CN215180570U ,2021-12-14
[8]
按键耐久测试装置 [P]. 
张新新 ;
袁海英 ;
吴宝松 .
中国专利 :CN206311317U ,2017-07-07
[9]
电容式触摸按键测试装置 [P]. 
陈亮军 ;
张继 .
中国专利 :CN204256076U ,2015-04-08
[10]
一种按键测试装置 [P]. 
曹超 .
中国专利 :CN202216835U ,2012-05-09