物理量传感器以及物理量测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080065281.9

申请日：

2010-03-10

公开(公告)号：

CN102792183B

公开(公告)日：

2012-11-21

发明(设计)人：

上野达也

申请人：

申请人地址：

日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号

IPC主分类号：

G01S1732

IPC分类号：

G01B1100 G01S1750

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

肖华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-11-21	公开	公开
2014-11-26	授权	授权
2019-03-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 17/32 申请日:20100310 授权公告日:20141126 终止日期:20180310
2013-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101378925069 IPC(主分类):G01S 17/32 专利申请号:2010800652819 申请日:20100310

共 50 条

[1]

计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法 [P].

上野达也 .

中国专利 :CN101936766B ,2011-01-05

[2]

物理量传感器和物理量计测方法 [P].

上野达也 .

中国专利 :CN102192707B ,2011-09-21

[3]

计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法 [P].

上野达也 .

中国专利 :CN101988851A ,2011-03-23

[4]

物理量测量装置及物理量测量方法 [P].

林圣人 .

中国专利 :CN102564631A ,2012-07-11

[5]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

北浦崇弘 ;

御子柴宪彦 .

中国专利 :CN104081161B ,2014-10-01

[6]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

北村彻 ;

御子柴宪彦 .

中国专利 :CN102224394A ,2011-10-19

[7]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

山下昌哉 ;

北村彻 .

中国专利 :CN101680760A ,2010-03-24

[8]

物理量传感器及物理量检测装置 [P].

大户正之 ;

佐藤健太 .

日本专利 :CN120820186A ,2025-10-21

[9]

物理量传感器以及物理量传感器的制造方法 [P].

芦野仁泰 .

中国专利 :CN104126107B ,2014-10-29

[10]

物理量传感器以及物理量传感器的制造方法 [P].

田中悟 .

中国专利 :CN107010588B ,2017-08-04

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