基于图像一次差分的全球电离层电子总含量预测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010239319.5

申请日：

2020-03-30

公开(公告)号：

CN111539455A

公开(公告)日：

2020-08-14

发明(设计)人：

胡伍生余龙飞余倩李小翠

申请人：

申请人地址：

211189 江苏省南京市江宁区东南大学路2号

IPC主分类号：

G06K962

IPC分类号：

G06N304

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204

代理人：

常虹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/62 申请日:20200330
2020-08-14	公开	公开

共 50 条

[1]

基于语义分割的全球电离层电子总含量预测方法 [P].

胡伍生 ;

余龙飞 ;

李小翠 ;

张志伟 .

中国专利 :CN111539433A ,2020-08-14

[2]

基于图像差分的全球电离层电子总含量异常探测方法 [P].

胡伍生 ;

余龙飞 ;

董彦锋 .

中国专利 :CN112085068A ,2020-12-15

[3]

基于深度循环神经网络的全球电离层电子总含量预测方法 [P].

胡伍生 ;

余龙飞 ;

董彦锋 ;

张志伟 ;

龙凤阳 .

中国专利 :CN111539453A ,2020-08-14

[4]

基于残差seq2seq神经网络的全球电离层电子总含量预测方法 [P].

胡伍生 ;

余龙飞 ;

董彦锋 .

中国专利 :CN111814855A ,2020-10-23

[5]

一种全球电离层电子总含量预测的算法 [P].

王志鹏 ;

王成 ;

薛开宇 ;

方堃 .

中国专利 :CN111651941B ,2020-09-11

[6]

电离层差分电子总含量估计方法及其装置 [P].

知男 ;

眭韵 ;

潘伟川 ;

付海洋 ;

汪登辉 ;

赵毅 ;

冯绍军 .

中国专利 :CN116359956B ,2025-08-26

[7]

电离层闪烁及电离层电子总含量监测装置 [P].

余侯芳 ;

邓忠新 ;

王登亮 ;

冯健 ;

李广 ;

刘钝 ;

马宝田 ;

甄卫民 ;

袁亚平 .

中国专利 :CN106134463B ,2014-08-27

[8]

一种基于深度学习框架的全球电离层总电子含量预测方法 [P].

刘杨 ;

李铮 .

中国专利 :CN111160646A ,2020-05-15

[9]

基于TCN模型的电离层总电子含量预报方法 [P].

唐丝语 ;

黄智 ;

陈伟 .

中国专利 :CN111967679A ,2020-11-20

[10]

基于星载ADS-B和AIS的全球电离层电子总含量测量方法 [P].

陈利虎 ;

罗坳柏 ;

赵勇 ;

陈小前 ;

余孙全 ;

李松亭 ;

倪久顺 .

中国专利 :CN113567758A ,2021-10-29

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