一种半导体金属材料新型测试探头

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202023046275.9
申请日
2020-12-17
公开(公告)号
CN215641425U
公开(公告)日
2022-01-25
发明(设计)人
严维新 荣春华 曹庚才 许保花
申请人
申请人地址
710065 陕西省西安市高新区丈八街办唐延路39号1幢2单元21008室
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
西安吉盛专利代理有限责任公司 61108
代理人
张恒阳
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种半导体金属材料新型测试探头 [P]. 
莫宗杰 .
中国专利 :CN208421012U ,2019-01-22
[2]
一种半导体金属材料通用测试夹具 [P]. 
莫宗杰 .
中国专利 :CN208636344U ,2019-03-22
[3]
半导体金属材料通用测试夹具 [P]. 
刘伟阳 .
中国专利 :CN212471176U ,2021-02-05
[4]
一种半导体金属材料通用测试夹具 [P]. 
严维新 ;
荣春华 ;
曹庚才 ;
许保花 .
中国专利 :CN214703688U ,2021-11-12
[5]
一种P型半导体材料专用测试探头 [P]. 
郑五星 ;
郑惠中 .
中国专利 :CN216747959U ,2022-06-14
[6]
一种表贴半导体分立器件测试探头 [P]. 
唐诚 ;
唐美琼 ;
赵青莲 .
中国专利 :CN202794249U ,2013-03-13
[7]
半导体测试探针 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN201348641Y ,2009-11-18
[8]
一种半导体测试探针 [P]. 
唐艳霞 .
中国专利 :CN209231396U ,2019-08-09
[9]
一种半导体测试探针 [P]. 
傅马腾 .
中国专利 :CN207248946U ,2018-04-17
[10]
一种半导体测试探针 [P]. 
陈煜明 ;
何明锋 .
中国专利 :CN217305266U ,2022-08-26