并行测试装置

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专利类型
发明
申请号
CN202111226475.9
申请日
2021-10-21
公开(公告)号
CN114019350A
公开(公告)日
2022-02-08
发明(设计)人
王江红 吴奇伟
申请人
申请人地址
201315 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
郭立
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
并行测试装置 [P]. 
田志刚 ;
鲁云雷 ;
卫晓晖 .
中国专利 :CN203433663U ,2014-02-12
[2]
PMU并行测试装置 [P]. 
曹贺 ;
陆军 ;
钱卫东 .
中国专利 :CN216083005U ,2022-03-18
[3]
系统板并行测试装置 [P]. 
温文斌 .
中国专利 :CN221261071U ,2024-07-02
[4]
多路并行芯片测试装置 [P]. 
李维繁星 ;
张春霞 .
中国专利 :CN223356787U ,2025-09-19
[5]
四工位并行测试装置 [P]. 
王锐 ;
胡泉金 ;
杨朝辉 ;
石磊 .
中国专利 :CN202869986U ,2013-04-10
[6]
并行芯片测试装置及测试方法 [P]. 
刘晓伟 ;
徐华英 .
中国专利 :CN108877868A ,2018-11-23
[7]
多气杆并行测试装置 [P]. 
毛华忠 .
中国专利 :CN202916078U ,2013-05-01
[8]
四工位并行测试装置及其测试方法 [P]. 
王锐 ;
胡泉金 ;
杨朝辉 ;
石磊 .
中国专利 :CN103674949A ,2014-03-26
[9]
光电测试装置 [P]. 
丹尼尔·吉多蒂 ;
薛海韵 ;
张文奇 .
中国专利 :CN104362108A ,2015-02-18
[10]
能减少测试时间的并行位测试装置和并行位测试方法 [P]. 
赵耸焕 ;
千权数 ;
张贤淳 ;
徐升焕 .
中国专利 :CN101256841A ,2008-09-03