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并行测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111226475.9
申请日
:
2021-10-21
公开(公告)号
:
CN114019350A
公开(公告)日
:
2022-02-08
发明(设计)人
:
王江红
吴奇伟
申请人
:
申请人地址
:
201315 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
郭立
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211021
2022-02-08
公开
公开
共 50 条
[1]
并行测试装置
[P].
田志刚
论文数:
0
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0
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田志刚
;
鲁云雷
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鲁云雷
;
卫晓晖
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卫晓晖
.
中国专利
:CN203433663U
,2014-02-12
[2]
PMU并行测试装置
[P].
曹贺
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曹贺
;
陆军
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陆军
;
钱卫东
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钱卫东
.
中国专利
:CN216083005U
,2022-03-18
[3]
系统板并行测试装置
[P].
温文斌
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机构:
东莞华贝电子科技有限公司
东莞华贝电子科技有限公司
温文斌
.
中国专利
:CN221261071U
,2024-07-02
[4]
多路并行芯片测试装置
[P].
李维繁星
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机构:
弘润半导体(苏州)有限公司
弘润半导体(苏州)有限公司
李维繁星
;
张春霞
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机构:
弘润半导体(苏州)有限公司
弘润半导体(苏州)有限公司
张春霞
.
中国专利
:CN223356787U
,2025-09-19
[5]
四工位并行测试装置
[P].
王锐
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王锐
;
胡泉金
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胡泉金
;
杨朝辉
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杨朝辉
;
石磊
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石磊
.
中国专利
:CN202869986U
,2013-04-10
[6]
并行芯片测试装置及测试方法
[P].
刘晓伟
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刘晓伟
;
徐华英
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徐华英
.
中国专利
:CN108877868A
,2018-11-23
[7]
多气杆并行测试装置
[P].
毛华忠
论文数:
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毛华忠
.
中国专利
:CN202916078U
,2013-05-01
[8]
四工位并行测试装置及其测试方法
[P].
王锐
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王锐
;
胡泉金
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胡泉金
;
杨朝辉
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杨朝辉
;
石磊
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石磊
.
中国专利
:CN103674949A
,2014-03-26
[9]
光电测试装置
[P].
丹尼尔·吉多蒂
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丹尼尔·吉多蒂
;
薛海韵
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薛海韵
;
张文奇
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张文奇
.
中国专利
:CN104362108A
,2015-02-18
[10]
能减少测试时间的并行位测试装置和并行位测试方法
[P].
赵耸焕
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赵耸焕
;
千权数
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千权数
;
张贤淳
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张贤淳
;
徐升焕
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徐升焕
.
中国专利
:CN101256841A
,2008-09-03
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