光谱分析系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN03823371.1

申请日：

2003-09-30

公开(公告)号：

CN1685217A

公开(公告)日：

2005-10-19

发明(设计)人：

A·伯林 C·格斯 T－W·丘

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01N2165

IPC分类号：

G01N2105

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

赵蓉民;路小龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-01-12	授权	授权
2019-09-17	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/65 申请日:20030930 授权公告日:20110112 终止日期:20180930
2005-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-10-19	公开	公开

共 50 条

[1]

光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P].

林田纯弥 ;

柿下容弓 ;

服部英春 ;

堀入纯 .

日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06

[2]

光谱分析 [P].

R·A·辛普金 ;

D·P·克劳塞 ;

B·J·史密斯 .

中国专利 :CN104769418A ,2015-07-08

[3]

光谱分析系统以及光谱分析方法 [P].

藤里砂 ;

村上幸雄 ;

岩﨑祥子 .

日本专利 :CN118111923A ,2024-05-31

[4]

一种光谱分析系统和光谱分析方法 [P].

程嘉 ;

邓龙虎 ;

刘伟峰 ;

季林红 ;

蒲以康 .

中国专利 :CN106546330A ,2017-03-29

[5]

光谱分析系统及光谱分析设备 [P].

杨晓杰 ;

杨国文 ;

李靖 ;

赵卫东 .

中国专利 :CN110836866A ,2020-02-25

[6]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

西村克美 .

中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21

[7]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

冯胜 .

中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15

[8]

光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

上野楠夫 ;

村上达希 ;

箕轮大辉 .

日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02

[9]

光谱分析系统 [P].

陈文聪 ;

蒲以康 .

中国专利 :CN103592025A ,2014-02-19

[10]

光谱分析系统 [P].

韩旭 ;

史坦 ;

戴安丽 ;

范鸿杰 .

中国专利 :CN118408887A ,2024-07-30

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