一种测量薄膜附着力的装置及定量测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710994543.3
申请日
2017-10-23
公开(公告)号
CN107655829A
公开(公告)日
2018-02-02
发明(设计)人
郑艳银 刘洋洋 牟铭 顾宝珊 杨培燕 张启富 梁东明
申请人
申请人地址
100081 北京市海淀区学院南路76号
IPC主分类号
G01N1904
IPC分类号
代理机构
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386
代理人
彭霜;许静
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种定量测量薄膜附着力的装置 [P]. 
郑艳银 ;
刘洋洋 ;
牟铭 ;
顾宝珊 ;
杨培燕 ;
张启富 ;
梁东明 .
中国专利 :CN207300844U ,2018-05-01
[2]
镀膜附着力测量方法及测量装置 [P]. 
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[4]
一种涂层与绝缘子粘接面附着力定量测量方法 [P]. 
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邓禹 ;
张学军 ;
于昕哲 .
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涂层附着力测量装置 [P]. 
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[9]
宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 [P]. 
邓震霞 ;
邵建达 ;
易葵 ;
范正修 ;
贺洪波 ;
肖连君 ;
何明华 .
中国专利 :CN200958994Y ,2007-10-10
[10]
宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 [P]. 
邓震霞 ;
邵建达 ;
易葵 ;
范正修 ;
贺洪波 ;
肖连君 ;
何明华 .
中国专利 :CN1912577A ,2007-02-14