检测探针接触电阻的测试结构与方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02136968.2

申请日：

2002-09-13

公开(公告)号：

CN1482468A

公开(公告)日：

2004-03-17

发明(设计)人：

曾繁中王伟

申请人：

申请人地址：

201203上海市张江路18号

IPC主分类号：

G01R2700

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所

代理人：

陈亮

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2004-03-17	公开	公开
2007-03-07	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回
2004-05-26	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

探针卡接触电阻测试结构及方法 [P].

季鸣 .

中国专利 :CN118130914A ,2024-06-04

[2]

接触电阻测试结构 [P].

李勇 .

中国专利 :CN206349362U ,2017-07-21

[3]

接触电阻的测试方法与装置 [P].

杨海洋 .

中国专利 :CN114460368A ,2022-05-10

[4]

接触电阻的测试方法和测试结构 [P].

单文光 ;

周华阳 ;

宋永梁 .

中国专利 :CN105092976A ,2015-11-25

[5]

接触电阻的测试方法 [P].

徐业 ;

殷丽 ;

齐莲莲 ;

邓陈 ;

夏锐 ;

刘振坤 ;

张学玲 .

中国专利 :CN121208446A ,2025-12-26

[6]

一种探针接触电阻的检测方法及其检测装置 [P].

章灵军 ;

王栩生 ;

房海冬 .

中国专利 :CN101696991A ,2010-04-21

[7]

接触电阻的测试结构及器件电阻的测试结构 [P].

许广勤 .

中国专利 :CN205720446U ,2016-11-23

[8]

精确测量探针接触电阻的方法 [P].

许新贵 ;

武洁 ;

何鹏 ;

李岩 .

中国专利 :CN120446592A ,2025-08-08

[9]

双极板接触电阻多层测试结构及双极板接触电阻测试方法 [P].

王师伟 ;

付宇 ;

王锡龙 ;

于湉琪 .

中国专利 :CN117723600A ,2024-03-19

[10]

检测探针磨耗的方法与探针 [P].

赵本善 ;

陈家进 .

中国专利 :CN101750036A ,2010-06-23

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