一种检测电离层TEC异常的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010132671.5

申请日：

2010-03-23

公开(公告)号：

CN101900834A

公开(公告)日：

2010-12-01

发明(设计)人：

祝芙英吴云乔学军周义炎林剑

申请人：

申请人地址：

430071 湖北省武汉市武昌区洪山侧路40号

IPC主分类号：

G01V300

IPC分类号：

代理机构：

武汉宇晨专利事务所 42001

代理人：

王敏锋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-11-06	授权	授权
2010-12-01	公开	公开
2011-01-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101030690006 IPC(主分类):G01V 3/00 专利申请号:2010101326715 申请日:20100323

共 50 条

[1]

一种检测地震电离层TEC异常的方法 [P].

祝芙英 ;

林剑 ;

翟笃林 ;

卿芸 .

中国专利 :CN111708075A ,2020-09-25

[2]

一种电离层TEC异常探测的方法 [P].

王建波 ;

孙佳龙 ;

杜良 .

中国专利 :CN107356979A ,2017-11-17

[3]

一种单站电离层TEC实时异常检测方法 [P].

黄智 ;

张娜娜 .

中国专利 :CN115563496A ,2023-01-03

[4]

一种电离层TEC异常值提取方法及系统 [P].

钟佳 ;

邹自明 ;

佟继周 .

中国专利 :CN113325463B ,2021-08-31

[5]

一种GPS电离层TEC层析方法 [P].

王新志 ;

岳东杰 ;

袁豹 .

中国专利 :CN103454695B ,2013-12-18

[6]

一种结合电离层层析技术的电离层TEC组合预测方法 [P].

尹萍 ;

闫晓鹏 .

中国专利 :CN113591991A ,2021-11-02

[7]

一种适用于单站电离层TEC实时异常监测方法 [P].

黄智 ;

张娜娜 .

中国专利 :CN113625356A ,2021-11-09

[8]

一种多尺度电离层TEC预测方法 [P].

汤俊 ;

李垠健 ;

钟正宇 ;

李长春 .

中国专利 :CN112287607B ,2021-01-29

[9]

一种短期电离层TEC组合预报方法 [P].

黄玲 ;

吴晗 ;

马彬 ;

韦律权 ;

刘立龙 ;

黄良珂 ;

周吕 .

中国专利 :CN114997474A ,2022-09-02

[10]

一种地震电离层TEC关联分析方法 [P].

钟佳 ;

邹自明 ;

佟继周 .

中国专利 :CN113325469A ,2021-08-31

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