一种介质基片介电常数测量机构及其测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201910091045.7
申请日
2019-01-30
公开(公告)号
CN109828157A
公开(公告)日
2019-05-31
发明(设计)人
孔商成 叶凯 胡三明
申请人
申请人地址
211100 江苏省南京市江宁区东南大学路2号
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204
代理人
向文
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]
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[9]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
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[10]
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