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一种介质基片介电常数测量机构及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910091045.7
申请日
:
2019-01-30
公开(公告)号
:
CN109828157A
公开(公告)日
:
2019-05-31
发明(设计)人
:
孔商成
叶凯
胡三明
申请人
:
申请人地址
:
211100 江苏省南京市江宁区东南大学路2号
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
代理机构
:
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204
代理人
:
向文
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20190130
2020-12-25
授权
授权
2019-05-31
公开
公开
共 50 条
[1]
微波介质基片介电常数的基片集成波导测量方法
[P].
洪伟
论文数:
0
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洪伟
;
颜力
论文数:
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颜力
.
中国专利
:CN1828314A
,2006-09-06
[2]
一种薄膜介质介电常数无损反射测量方法
[P].
李路同
论文数:
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机构:
中国电子科技集团公司第十研究所
中国电子科技集团公司第十研究所
李路同
;
杨顺平
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机构:
中国电子科技集团公司第十研究所
中国电子科技集团公司第十研究所
杨顺平
;
刘秀利
论文数:
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机构:
中国电子科技集团公司第十研究所
中国电子科技集团公司第十研究所
刘秀利
.
中国专利
:CN115236408B
,2024-11-26
[3]
基于基片集成波导圆形谐振腔的材料复介电常数测量方法
[P].
程钰间
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程钰间
;
夏支仙
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夏支仙
;
黄伟娜
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黄伟娜
;
钟熠辰
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钟熠辰
;
樊勇
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樊勇
.
中国专利
:CN103901278A
,2014-07-02
[4]
一种液体介电常数测量方法
[P].
张向平
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张向平
;
方晓华
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方晓华
;
赵永建
论文数:
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赵永建
.
中国专利
:CN109541319A
,2019-03-29
[5]
一种叶片介电常数测量装置及测量方法
[P].
张阳
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张阳
;
柳钦火
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柳钦火
;
肖青
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0
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0
肖青
.
中国专利
:CN105954595B
,2016-09-21
[6]
薄膜介电常数测量结构及其测量方法
[P].
汪国军
论文数:
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
汪国军
.
中国专利
:CN119757879A
,2025-04-04
[7]
基于SRR的复介电常数测量装置及测量方法
[P].
董晶
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董晶
;
申发中
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申发中
;
皇甫江涛
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皇甫江涛
;
冉立新
论文数:
0
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0
冉立新
.
中国专利
:CN103675466A
,2014-03-26
[8]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
论文数:
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486A
,2025-10-28
[9]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486B
,2025-12-23
[10]
一种介质材料高温复介电常数测量装置
[P].
郭高凤
论文数:
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郭高凤
;
李恩
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李恩
;
王益
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王益
;
聂瑞星
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聂瑞星
;
周杨
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周杨
;
高源慈
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高源慈
;
陶冰洁
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陶冰洁
.
中国专利
:CN102393490B
,2012-03-28
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