荧光强度校正方法、荧光强度计算方法及计算装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110101152.7

申请日：

2011-04-21

公开(公告)号：

CN102235976A

公开(公告)日：

2011-11-09

发明(设计)人：

加藤泰信酒井启嗣

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

李丙林;张英

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-10-14	授权	授权
2011-11-09	公开	公开
2013-04-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101439318058 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2011101011527 申请日:20110421

共 50 条

[1]

荧光强度校正方法和荧光强度计算装置 [P].

加藤泰信 ;

酒井启嗣 .

中国专利 :CN102313724B ,2012-01-11

[2]

荧光强度校正方法、校正程序、计算方法和计算装置 [P].

酒井启嗣 .

中国专利 :CN102410879B ,2015-07-08

[3]

荧光强度补偿方法及荧光强度计算装置 [P].

酒井启嗣 .

中国专利 :CN102435313A ,2012-05-02

[4]

荧光强度计算方法、装置、系统、计算机设备和存储介质 [P].

杨姗 .

中国专利 :CN117958729A ,2024-05-03

[5]

医用灯光强度计算装置 [P].

罗武星 ;

刘钊 ;

杨立超 .

中国专利 :CN217465986U ,2022-09-20

[6]

摄像装置、图像分析装置、外部光强度计算方法、图像分析方法 [P].

吉本良治 ;

藤原晶 ;

山下大辅 .

中国专利 :CN101685363A ,2010-03-31

[7]

一种线粒体探针的荧光强度校正方法、细胞浓度检测方法 [P].

李国平 ;

黄兴琳 ;

陆煜桐 ;

王希希 ;

冯禹 ;

郭鹏 ;

王昊晟 ;

范神栋 .

中国专利 :CN114577774B ,2022-06-03

[8]

电位敏感性荧光染料的荧光强度测定方法 [P].

服部文幸 ;

福田惠一 ;

佐藤裕介 .

中国专利 :CN102612644A ,2012-07-25

[9]

损伤强度计算方法和损伤强度计算装置 [P].

刘向君 ;

丁乙 ;

罗平亚 ;

梁利喜 ;

熊健 .

中国专利 :CN108593771A ,2018-09-28

[10]

链接强度计算方法和链接强度计算设备 [P].

孙健 ;

夏迎炬 ;

李中华 .

中国专利 :CN104978471A ,2015-10-14

← 1 2 3 4 5 →