基于F-P标准具选支的原子滤光太阳成像仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910273413.6

申请日：

2009-12-25

公开(公告)号：

CN101709999B

公开(公告)日：

2010-05-19

发明(设计)人：

龚威邹照伟程学武马盈盈毛飞跃杨国韬邓元勇杨勇

申请人：

申请人地址：

430072 湖北省武汉市武昌珞珈山

IPC主分类号：

G01J3427

IPC分类号：

G01J302 G01P526

代理机构：

武汉华旭知识产权事务所 42214

代理人：

周宗贵

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-07-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101003678796 IPC(主分类):G01J 3/427 专利申请号:2009102734136 申请日:20091225
2010-05-19	公开	公开
2011-04-20	授权	授权
2020-12-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/427 申请日:20091225 授权公告日:20110420 终止日期:20191225

共 48 条

[1]

双通道原子滤光全日面太阳成像仪 [P].

程学武 ;

杨勇 ;

龚威 ;

杨国韬 ;

胡雄 ;

李发泉 ;

邹照伟 .

中国专利 :CN101620007B ,2010-01-06

[2]

双通道原子滤光全日面太阳成像仪 [P].

程学武 ;

杨勇 ;

龚威 ;

杨国韬 ;

胡雄 ;

李发泉 ;

邹照伟 .

中国专利 :CN201548326U ,2010-08-11

[3]

基于阶跃滤光片的超光谱成像仪 [P].

陈小文 ;

李春来 ;

王建宇 .

中国专利 :CN206281570U ,2017-06-27

[4]

基于F-P标准具的瞬态高分辨率光谱仪 [P].

石锦卫 ;

赵芸赫 ;

李鸿暾 ;

魏巍威 ;

刘大禾 .

中国专利 :CN105092032B ,2015-11-25

[5]

基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统 [P].

时光 ;

王文 ;

范绪银 ;

范宗尉 .

中国专利 :CN105785386A ,2016-07-20

[6]

基于F-P标准具和参考光栅的波长解调系统和方法 [P].

许雪梅 ;

李梦平 ;

汪金辉 ;

李运龙 ;

曹建 ;

曹粲 ;

尹林子 ;

丁家峰 ;

丁一鹏 .

中国专利 :CN104457803A ,2015-03-25

[7]

基于双边缘技术的四通道F-P标准具 [P].

张德远 ;

吉明娟 ;

卢宽玉 .

中国专利 :CN201464649U ,2010-05-12

[8]

基于F-P半导体激光器和薄膜F-P滤光片级联的光学传感器 [P].

李明宇 ;

周龙 .

中国专利 :CN103884683A ,2014-06-25

[9]

一种基于阶跃滤光片的超光谱成像仪 [P].

陈小文 ;

李春来 ;

王建宇 .

中国专利 :CN105371952A ,2016-03-02

[10]

一种基于阶跃滤光片的超光谱成像仪 [P].

陈小文 ;

李春来 ;

王建宇 .

中国专利 :CN106382988A ,2017-02-08

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