自检电路及自检方法、安全芯片和电子卡

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010985887.X
申请日
2020-09-18
公开(公告)号
CN112052484A
公开(公告)日
2020-12-08
发明(设计)人
李立 杨磊 邓锋
申请人
申请人地址
300450 天津市滨海新区开发区信环西路19号泰达服务外包产业园5号楼5701-5
IPC主分类号
G06F2175
IPC分类号
代理机构
北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381
代理人
陈曦;董烨飞
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
温度自检结构与温度自检方法、安全芯片和电子卡 [P]. 
李立 ;
杨磊 ;
吕晓鹏 .
中国专利 :CN112098817A ,2020-12-18
[2]
芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法 [P]. 
黄冠中 .
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[3]
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丰斌 .
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[4]
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玉维友 ;
刘桂鹏 ;
陈位旭 ;
唐杰 ;
贺小林 .
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[5]
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汪令祥 ;
吴玉杨 ;
曾凡超 ;
孟祥志 .
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[6]
用于非接触卡类芯片的编程失败自检测电路及自检测方法 [P]. 
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[7]
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[8]
一种自检电路、自检方法和电机 [P]. 
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[9]
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李立 ;
杨磊 ;
吕晓鹏 .
中国专利 :CN112115520A ,2020-12-22
[10]
内部电源供电结构及方法、安全芯片和电子卡 [P]. 
李立 ;
杨磊 ;
吕晓鹏 .
中国专利 :CN112115520B ,2024-06-07